8、準(zhǔn)確的壓力校準(zhǔn)將成為DDR5 RX測試中的大問題
而且要獲得準(zhǔn)確的S參數(shù)模型，這兩者都必須進(jìn)行估算并測量，包括所有段。另一個(gè)關(guān)鍵特性是能夠準(zhǔn)確地或很好地猜出測量深度及示波器記錄長度，這樣就不會(huì)浪費(fèi)太多的時(shí)間。
9、DRAM Rx/Tx測試將面臨巨大的數(shù)據(jù)庫管理問題
數(shù)量龐大的s-par文件、反嵌模型和測量結(jié)果的自動(dòng)化和管理，將變成一個(gè)噩夢。想象一下，不同廠商多種DIMM配置，以不同速度等級(jí)測試80多個(gè)引腳，這將非常非常困難。
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