從增強(qiáng)現(xiàn)實(shí)到人工智能、云計(jì)算再到物聯(lián)網(wǎng)，5G正在燃爆新技術(shù)增長(zhǎng)，同時(shí)也在燃爆它們生成的數(shù)據(jù)量。數(shù)據(jù)量越來(lái)越大，隨之而來(lái)的是存儲(chǔ)和快速訪問(wèn)需求，DDR5之類的技術(shù)變得空前重要。數(shù)據(jù)中心需要持續(xù)存儲(chǔ)、傳送和處理這些數(shù)據(jù)，推動(dòng)著高速信令的極限，也給內(nèi)存帶來(lái)了前所未有的測(cè)試挑戰(zhàn)。

具體有哪些變化？

DDR5與DDR4差別很大，實(shí)際上更像LPDDR4。DDR5共帶來(lái)9大變化：

1、速度更快！

第一個(gè)，也是最重要的一個(gè)，數(shù)據(jù)速率達(dá)到6.4 Gbps，而DDR4最高只有3.2Gbps。規(guī)范中還有一條，在未來(lái)幾年內(nèi)把速度上限推高到8 Gbps以上。通道結(jié)構(gòu)與LPDDR4類似，ECC中也有兩條獨(dú)立的40位通道。還有更高的預(yù)讀取、更高的突發(fā)長(zhǎng)度和更高的行列組，這些都提高了效率，實(shí)現(xiàn)了高速模式。

2、寫(xiě)入不再居中

DQS和DQ之間有固定的偏置，因此我們不能只在示波器上測(cè)量DQS和DQ之間的延遲，以推算出是讀還是寫(xiě)。不再這么容易了！讀寫(xiě)突發(fā)分隔都將變得更加復(fù)雜。

3、新的時(shí)鐘抖動(dòng)測(cè)量

DDR5引入了Rj、Dj和Tj測(cè)量，代替了周期和周期間抖動(dòng)測(cè)量。Rj指標(biāo)在最大數(shù)據(jù)速率下變得非常緊。優(yōu)秀的信號(hào)完整性對(duì)滿懷信心地測(cè)量這些參數(shù)變得至關(guān)重要。

4、反嵌在更高的DDR5數(shù)據(jù)速率下將變得非常關(guān)鍵

反嵌是一種移除探頭和內(nèi)插器負(fù)載的技術(shù)，它還用來(lái)把探測(cè)點(diǎn)以虛擬方式從DRAM球移到DRAM芯片，以使反射達(dá)到最小。我們想看到Rx看到的是什么。為成功地創(chuàng)建反嵌濾波器文件或傳遞函數(shù)，要求s-par文件，而且數(shù)量很多。想法是在SOC封裝、電路板模型、DRAM封裝、內(nèi)插器、探頭及IO設(shè)置中使用s-par模型，比如Tx驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度和Rx ODT (如有)，盡可能如實(shí)模擬DDR通道。如果沒(méi)有s-par模型，還可以使用簡(jiǎn)單的傳輸線參數(shù)，如傳播延遲和特性阻抗，這通過(guò)在示波器屏幕上測(cè)量反射來(lái)實(shí)現(xiàn)。

5、我們將第一次在接收機(jī)中有Rx均衡、4階DFE

DDR5提高了數(shù)據(jù)速率，而不用把DQ總線遷移到差分信令，也就是說(shuō)，DQ總線仍是單端的，與DDR3/4相同。然而，內(nèi)存通道有大量的阻抗失配點(diǎn)，由于反射而提高了整體ISI。在數(shù)據(jù)速率超過(guò)4800 Mbps時(shí)，DRAM球的數(shù)據(jù)眼圖預(yù)計(jì)會(huì)閉合。DDR5 DRAM Rx實(shí)現(xiàn)了4階DFE，幫助均衡DQ信號(hào)，在接收機(jī)鎖存數(shù)據(jù)后張開(kāi)數(shù)據(jù)眼圖。此外，RCD的CA Rx還需要DFE，以確?？煽康夭东@信號(hào)。

6、DDR5另一個(gè)明顯變化是包括一條環(huán)回通道

看一下DDR5的引腳圖，您會(huì)發(fā)現(xiàn)專用的DQS/DQ環(huán)回引腳。其用來(lái)實(shí)現(xiàn)獨(dú)立DRAM RX/TX表征。環(huán)回通道至關(guān)重要。事實(shí)上，我們正是通過(guò)環(huán)回通道，才知道接收機(jī)真正實(shí)時(shí)做了哪些位決策。它是所有不同接收機(jī)之間共享的一條單線，由于信號(hào)完整性差及其他原因，我們只能發(fā)回每第四個(gè)位或每第二個(gè)位，所以有充足的時(shí)間，能夠確保外部接收機(jī)或誤碼檢測(cè)器能夠以100%準(zhǔn)確度校驗(yàn)片上Rx的質(zhì)量。

7、DDR5需要使用BERT和/或通用碼型發(fā)生器進(jìn)行獨(dú)立DRAM Rx/Tx測(cè)試

這要求一套全新測(cè)試，包括電壓和頻率靈敏度及壓力眼圖測(cè)試，DDR3/4中是沒(méi)有這些測(cè)試的。概念很簡(jiǎn)單，任何人都應(yīng)能夠使用標(biāo)準(zhǔn)化JEDEC夾具，根據(jù)JEDEC規(guī)定的測(cè)試程序，執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試，確定DRAM Rx/TX的健康狀況。