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PCI-Express Gen1 jitter測試問題分析以及解決方案


時間:2015-07-27 作者:
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       項目背景
       項目為一個云端運算的產(chǎn)品,所有的高速和低速信號都要進(jìn)行信號完整性測試,其中包括高速串行信號PCI-Express Gen1( 簡稱PCIe Gen1)。PCIe Gen1信號分為CEMbase兩種情況,CEM的測試可以使用 PCI-sig協(xié)會的fixture直接進(jìn)行測試;base的測試直接使用探頭探測最終端的測試點,這樣就會帶來一個問題,如何才能測試到芯片的的最終端?因為,信號的互連通道不僅僅包含了PCB走線,還包含了芯片內(nèi)部的布線,一般我們認(rèn)為測量到芯片內(nèi)部的Die才算最終端。
       該項目的PCIE 1.0是屬于PCIe base的,互連CPU與以太網(wǎng)PHY,如下圖1所示:

原理框圖
       所以測試的時候,需要將probe探測到最終端,但是對于目前示波器測試而言,都只能測試到芯片的引腳上,沒有辦法探測到最終端的Die上,如下圖2所示。
測試點只能探測到芯片的管腳

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