這種封裝，很多時(shí)候其芯片內(nèi)部走線比較長(zhǎng)，那么在測(cè)試的時(shí)候，其探測(cè)點(diǎn)在芯片的引腳上，那么內(nèi)部的走線就是一段stub，顯然，這一段stub很長(zhǎng)，由于stub的作用，很可能最終導(dǎo)致其測(cè)試時(shí)信號(hào)波形出現(xiàn)非單調(diào)。進(jìn)而影響眼圖、jitter等信號(hào)完整性的表現(xiàn)。
解決方案
分析了相關(guān)的原因后，懷疑就是在測(cè)試時(shí)芯片內(nèi)部的走線形成了stub，那么在測(cè)試把芯片去掉，在PCIE信號(hào)兩個(gè)引腳上分別焊接上50ohm的端接電阻，類似PCIE CEM的測(cè)試一樣，探頭連接在電阻端進(jìn)行測(cè)試，這樣就不會(huì)存在stub，如果信號(hào)波形是好的，都能滿足眼圖、jitter等性能指標(biāo)，那么懷疑是芯片內(nèi)部的走線引起的stub導(dǎo)致的反射，這就是成立的，這樣的情況可以認(rèn)為PCIe的互連通道的信號(hào)完整性能滿足產(chǎn)品和規(guī)范的要求。
芯片去掉之后，端接上電阻，得到眼圖和jitter分析結(jié)果如下圖7所示：
解決方案
分析了相關(guān)的原因后，懷疑就是在測(cè)試時(shí)芯片內(nèi)部的走線形成了stub，那么在測(cè)試把芯片去掉，在PCIE信號(hào)兩個(gè)引腳上分別焊接上50ohm的端接電阻，類似PCIE CEM的測(cè)試一樣，探頭連接在電阻端進(jìn)行測(cè)試，這樣就不會(huì)存在stub，如果信號(hào)波形是好的，都能滿足眼圖、jitter等性能指標(biāo)，那么懷疑是芯片內(nèi)部的走線引起的stub導(dǎo)致的反射，這就是成立的，這樣的情況可以認(rèn)為PCIe的互連通道的信號(hào)完整性能滿足產(chǎn)品和規(guī)范的要求。
芯片去掉之后，端接上電阻，得到眼圖和jitter分析結(jié)果如下圖7所示：
