石英晶體的化學(xué)成分是二氧化硅，可以用做振蕩電路，是利用它的壓電效應(yīng)。當(dāng)交變電壓施加于石英晶片時，晶片將隨交變電壓的頻率產(chǎn)生周期性的機械振動；同時，機械振動在晶片產(chǎn)生電荷而形成交變電流。一般來說，這種機械振動的振幅很小，而振動頻率很穩(wěn)定。但當(dāng)外加信號源的頻率與晶體的固有頻率相等時，晶體便發(fā)生共振，此時晶體外電路的交變電流也最大，這個現(xiàn)象稱為石英晶體的壓電諧振。因為晶體振蕩電路的頻率穩(wěn)定性很好，所以廣泛應(yīng)用于電子系統(tǒng)中，為其提供基準時鐘。

1.頻率測試方法

晶體的參數(shù)有很多，主要包括：振蕩頻率及其偏差、負載電容、驅(qū)動功率、等效阻抗、Ｑ值、工作溫度等，晶體振蕩電路最重要的就是保持工作在一個穩(wěn)定的頻率，所以本次討論的也是針對頻率的測試。

先簡單了解下面三種儀器：示波器、頻率計、頻譜分析儀。示波器作為“工程師的眼睛”，設(shè)定觸發(fā)條件后可以抓取到波形，然后針對采集到的數(shù)據(jù)進行豐富的函數(shù)分析，其中一個函數(shù)就是測量頻率值。而頻率計顧名思義，是用來測試信號頻率的專業(yè)儀器，當(dāng)然也可以獲得信號的其他信息，例如信號的電平值。最后說到的頻譜分析儀通常用在射頻領(lǐng)域，來觀察和分析被測信號的頻域特性，而我們常用其配合近場探頭來掃描電磁干擾的功率峰值以及找到其對應(yīng)的頻點，初步判定輻射源屬性。

第一眼看上去這三種儀器用途各不相同，但其實都可以用來測試晶體振蕩電路的頻率。

如果使用示波器或者頻率計，配合無源電壓探頭點測芯片的時鐘輸入引腳，就可以測量到頻率，如下是各部分的電路結(jié)構(gòu)：

其中：

C1、C2是晶體的負載電容，影響到頻率、負性阻抗等電路參數(shù)

R3、C3是無源電壓探頭的電路參數(shù)，R3是9Mohm，C3是幾個pF不等

R4、C4是示波器或者頻率計輸入通道的等效阻抗和電容，R4是1Mohm，C4是幾十pF不等

如果使用頻譜分析儀，配合近場探頭靠近晶體封裝外殼就可以探測到輻射功率峰值的頻率，這個頻率也是晶體電路的振蕩頻率。

現(xiàn)在問題的焦點并不是能否測試，而是哪一種儀器的測試結(jié)果更準確 ?

2.頻率測試準確性的理論分析

2.1儀器對電路的影響

如果使用示波器或者頻率計，就需要無源電壓探頭配合測試，那么首先考慮的是儀器對負載電容的影響。晶體振蕩電路的并聯(lián)諧振頻率公式：

，其中：C1、C2是負載電容，Cs是印制板的寄生電容

Cp是晶體的等效并聯(lián)電容

從上面的電路結(jié)構(gòu)上看，C3、C4串聯(lián)后的電容會并聯(lián)到C1上，結(jié)果使負載電容量增大，最終導(dǎo)致振蕩頻率減小。而如果C3、C4的容值越小，對電路的影響也就越小。但限于目前的測試系統(tǒng)，C3和C4串聯(lián)后的電容值是幾個pF的級別，而C1通常是20~30pF，所以儀器對負載電容量的影響在10%以上，最終會導(dǎo)致測量結(jié)果產(chǎn)生幾個ppm（單位，百萬分之一）的頻率偏差，通常電路設(shè)計對晶體頻偏的要求是30ppm左右，所以這個影響還是不能忽視的。

但如果使用頻譜分析儀，配合近場探頭測試，因為僅在空間上有電磁場的耦合，所以儀器的影響可以忽略。從這個角度上看，頻譜分析儀更適合測量晶體頻率。

2.2儀器測量頻率的精度

從下面兩個方面來分析儀器的哪些參數(shù)影響到測量精度

-內(nèi)部時鐘精度

-測量值分辨率

初步定性分析，頻率計作為專業(yè)測試設(shè)備，內(nèi)部時鐘精度不差，從定期的儀器校驗結(jié)果看，精度高于1ppm，特別是它的分辨率12bit是非常高的；頻譜分析儀的時鐘精度看上去也可以，而且1Hz的分辨率滿足測試要求，但實際掃描到功率峰值的頻率是否穩(wěn)定還需要驗證；而示波器的時鐘精度看上去與前兩者相差并不大，但需要考慮到：量化誤差（前端信號采集系統(tǒng)的8位ADC引起的信號幅度測量誤差）引起的垂直電平測量不準確性，以及采樣率不足等因素都會引起水平軸的測量誤差，最終導(dǎo)致頻率值測量誤差，而且其分辨率情況需要實測驗證。