雙脈沖測試

雙脈沖測試中一個(gè)重要目標(biāo)是，準(zhǔn)確測量能量損耗。在示波器中進(jìn)行準(zhǔn)確的功率、能量測試，關(guān)鍵的一步是在電壓探頭和電流探頭之間進(jìn)行校準(zhǔn)，消除時(shí)序偏差。

泰克今年推出的雙脈沖測試軟件（WBG-DPT）在4系、5系和6系示波器上均可使用，該軟件包括一種新的專為雙脈沖測試設(shè)計(jì)的消除時(shí)序偏差（deskew）的校準(zhǔn)技術(shù)。這種新的方法與傳統(tǒng)方法大有不同，測試速度顯著加快，縮短了測試時(shí)間。

該技術(shù)適用于使用場效應(yīng)晶體管或IGBT的功率轉(zhuǎn)換器。在本篇文章中，我們將使用FET術(shù)語，來使得描述簡單明了。

為什么要消除時(shí)序偏差（deskew）？

在設(shè)計(jì)任意一種功率變換器時(shí)，都必須盡量減少開關(guān)過程中的能量損耗。這種能量損耗可以使用示波器進(jìn)行測量。一般方法是將同一時(shí)刻的電壓和電流采樣相乘，生成功率波形。

p(t) = v(t)*i(t)

由于功率波形表示隨時(shí)間變化的能量消耗，因此可以通過對功率波形進(jìn)行積分來確定能量：

E = ∫p(t)dt

要準(zhǔn)確測量能量損耗，電流和電壓波形的轉(zhuǎn)換應(yīng)在時(shí)間上保持一致。因此，為了準(zhǔn)確進(jìn)行能量損耗測量，設(shè)計(jì)者必須矯正測試夾具和探頭造成的延遲。

一般來講，在測試裝置上開始任何測量之前都要計(jì)算探頭之間的偏差。對于低電壓應(yīng)用，可以使用函數(shù)發(fā)生器和時(shí)序偏差校準(zhǔn)夾具（deskew夾具）（Tektronix P/N 067-1686-03）進(jìn)行校準(zhǔn)。但是，這種方法對于高電壓和大電流應(yīng)用而言，并非最佳選擇。

為了匹配更高功率下低壓漏-源極電壓（VDS）和漏極電流（ID）的測量，傳統(tǒng)技術(shù)需要重新布線測試裝置。這要求移除負(fù)載電感，并用電阻取而代之。接下來進(jìn)行測量，需要匹配VDS和ID測量值。這個(gè)過程可能需要一個(gè)小時(shí)或更長時(shí)間。

圖1. 傳統(tǒng)的deskew方法是移除負(fù)載電感，用電阻替代

一種新的時(shí)序偏差校準(zhǔn)（deskew）方法

泰克WBG-DPT解決方案是業(yè)內(nèi)首創(chuàng)的基于軟件的時(shí)序偏差校準(zhǔn)（deskew）技術(shù)，無需重新布線，只需在進(jìn)行雙脈沖測量后即可執(zhí)行。在新方法中，采集漏極電流（ID）用作參考波形。在導(dǎo)通期間，利用測試電路的參數(shù)模型計(jì)算出低壓側(cè)VDS對齊波形，其計(jì)算后的波形參考ID波形，相對于ID沒有時(shí)序偏移。消除時(shí)序偏差的算法確定計(jì)算出的VDS波形與測量出的VDS波形之間的時(shí)序偏差。然后將deskew校準(zhǔn)的數(shù)據(jù)修正到VDS測量通道。

圖2. 在新方法中，時(shí)序偏差校準(zhǔn)是在測試后進(jìn)行的，參數(shù)在deskew菜單中設(shè)定

時(shí)序偏差校準(zhǔn)過程

如上所述，時(shí)序偏差校準(zhǔn)可在測量后進(jìn)行。在開始雙脈沖測試時(shí)，無需擔(dān)心VDS和ID之間的偏差，隨后選擇deskew設(shè)置并提供以下參數(shù)：

?  探頭阻抗 - 在本文中假定為電流檢測電阻(CVR)或分流電阻

?  有效"回路"電感

?  偏置電壓（低壓側(cè)FET關(guān)斷時(shí)兩端的平均VDS）

?  差分階數(shù)（模型用于平滑的濾波器階數(shù)）

圖3. 用于建立VDS_low對齊波形的等效電路

該電路假定使用一個(gè)電流觀察電阻來測量ID

在deskew菜單中輸入的參數(shù)用于構(gòu)建VDS對應(yīng)波形。波形使用基爾霍夫電壓定律建立：