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混合芯片測試時間長難度大?一招讓您變“測神”


  來源: NI 時間:2021-09-08 編輯:清風(fēng)
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混合信號芯片涵蓋模擬信號與數(shù)字信號的測量與控制。一般測試相關(guān)的文檔多從儀表的操作角度出發(fā),工程師就得花時間理解儀表功能,并且還要想辦法對應(yīng)到自身的芯片應(yīng)用上。如果芯片的測試軟件能夠從芯片本身的驗證流程去操作,就可以減少工程師花在理解儀表功能上的時間,從而提高工作效率。


傳統(tǒng)的測試方法需要耗時幾個小時,NI的測試方案僅需幾十分鐘。



在混合信號芯片驗證過程中,要提升測試和驗證工作的產(chǎn)出就需要:

預(yù)建的測量項目與開放式框架擴(kuò)充項目

能在交互式環(huán)境下調(diào)試

快速將調(diào)試結(jié)果擴(kuò)展至自動化測試流程

支持各種自動化環(huán)境和編程語言,讓項目和團(tuán)隊之間能復(fù)用測量IP


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