與現(xiàn)有3U PXI數(shù)字子系統(tǒng)采用“單一”定時(shí)系統(tǒng)（其中所有I/O通道都用同一時(shí)鐘邊緣進(jìn)行時(shí)鐘）不同，每引腳動(dòng)態(tài)定時(shí)系統(tǒng)提供了在多通道基礎(chǔ)上獨(dú)立和動(dòng)態(tài)定位數(shù)據(jù)的靈活性。
此外，在模擬復(fù)雜的總線定時(shí)或測(cè)試脈沖寬度靈敏度時(shí)，數(shù)據(jù)格式（例如不歸零或歸零等）提供了更大的靈活性。
有了這些動(dòng)態(tài)計(jì)時(shí)特性和數(shù)據(jù)格式，基于PXI的測(cè)試系統(tǒng)可以提供與大型ATE系統(tǒng)相當(dāng)?shù)臏y(cè)試能力。
動(dòng)態(tài)計(jì)時(shí)意味著能夠在測(cè)試步驟內(nèi)以足夠的分辨率移動(dòng)邊緣。
對(duì)于一個(gè)獨(dú)特的定時(shí)系統(tǒng)的挑戰(zhàn)是邊緣位置將被限制在向量時(shí)鐘速率的上升或下降邊緣，并且對(duì)于一個(gè)完整的向量突發(fā)，邊緣位置將是固定的。
例如，如果矢量時(shí)鐘速率為100MHz，則邊緣位置將被限制為5ns分辨率，且時(shí)鐘速率較慢，從而導(dǎo)致相應(yīng)的分辨率降低。為了充分表現(xiàn)和測(cè)試切換速率為100MHz或更高的數(shù)字設(shè)備，測(cè)試系統(tǒng)必須能夠以1ns或更好的分辨率在數(shù)據(jù)/時(shí)鐘邊緣進(jìn)行增量和動(dòng)態(tài)移動(dòng)。一個(gè)典型的應(yīng)用是描述設(shè)備的設(shè)置和持續(xù)時(shí)間，這需要相對(duì)于時(shí)鐘的數(shù)據(jù)增量移動(dòng)。
為了執(zhí)行此測(cè)試，數(shù)據(jù)（或時(shí)鐘）相對(duì)于時(shí)鐘（或數(shù)據(jù)）以小增量移動(dòng)，從而允許設(shè)備實(shí)現(xiàn)完整的交流特性。使用數(shù)字子系統(tǒng)的多時(shí)間設(shè)置功能，可以為序列或測(cè)試步驟分配不同的值，允許時(shí)鐘邊緣通過(guò)設(shè)備的指定設(shè)置和持續(xù)時(shí)間范圍。
在不求采用1-GHz或更高的定時(shí)時(shí)鐘速率的情況下，一個(gè)提供足夠的定時(shí)分辨率的解決方案是采用動(dòng)態(tài)時(shí)序內(nèi)插器。該內(nèi)插器能夠靈活地將驅(qū)動(dòng)/感測(cè)測(cè)試矢量以1-ns或更好的分辨率定位在測(cè)試步驟內(nèi)的任何位置，而不僅僅是在矢量時(shí)鐘的邊緣邊界上。這種靈活性允許用戶精確地創(chuàng)建矢量定時(shí)，而無(wú)需求助于過(guò)采樣（over sampling）等變通方法，這是一種使用多個(gè)向量來(lái)實(shí)現(xiàn)中等邊緣位置分辨率的技術(shù)。此外，“動(dòng)態(tài)”編程引腳時(shí)序的能力極大地簡(jiǎn)化了時(shí)序Shmoo圖的創(chuàng)建/執(zhí)行、設(shè)備交流參數(shù)的驗(yàn)證/特征描述，以及WGL、STIL和VCD測(cè)試向量的轉(zhuǎn)換。使用僅支持每引腳“靜態(tài)”計(jì)時(shí)的儀器來(lái)執(zhí)行這些測(cè)試需要更長(zhǎng)的測(cè)試時(shí)間，在某些情況下，儀器的功能可能不適合應(yīng)用。
通過(guò)將每針定時(shí)結(jié)構(gòu)的特性與軟件工具相結(jié)合，可以很容易地表現(xiàn)出數(shù)字和混合信號(hào)設(shè)備的動(dòng)態(tài)性能。例如，通過(guò)使用二維Shmoo圖，可以基于電源變化或其他參數(shù)來(lái)表征設(shè)備的性能。圖4詳細(xì)說(shuō)明了這兩個(gè)參數(shù)與電源變化的Shmoo圖。在每種情況下，在一系列定時(shí)和電源條件下將測(cè)試向量應(yīng)用于被測(cè)設(shè)備，并顯示每個(gè)特定操作條件下的通過(guò)/失敗結(jié)果。
圖 4、建立并保持Shmoo圖
總結(jié)：
下一代PXI數(shù)字儀器提供的功能和測(cè)試功能通常只能在專用的ATE半導(dǎo)體系統(tǒng)中找到。隨著這些新的、先進(jìn)的數(shù)字子系統(tǒng)的出現(xiàn)，基于PXI的半導(dǎo)體測(cè)試解決方案現(xiàn)在可以為數(shù)字、混合信號(hào)和射頻測(cè)試應(yīng)用提供更廣泛的測(cè)試能力和功能?，F(xiàn)在的PXI系統(tǒng)為驗(yàn)證、集中生產(chǎn)和故障分析應(yīng)用提供了令人信服的測(cè)試解決方案，提供了與專用ATE相當(dāng)?shù)墓δ芎托阅堋?
