傳輸頻率誤差：通道中心頻率與頻譜儀中心頻率之差，差值為-13Hz。

信道功率：

測量積分帶寬500Hz內的功率，為-59.84dBm，同時將積分帶寬內的功率歸一化到1Hz得到功率譜密度數(shù)值為-86.83dBm/Hz。

頻譜監(jiān)測：

用色溫表示頻譜的能量

另外，SSA3000X系列頻譜儀還可測量三階交調、時域功率、鄰道功率比等，由于此為低頻讀寫模塊，測試較為簡單，暫不做上述分析。

示波器解碼：

使用ID卡對讀寫模塊進行測試，當ID卡在讀寫模塊天線處被感應時，讀寫模塊收到信號，會從蜂鳴器、LED燈和TXD管腳分別輸出信號。

用SDS1204X-E示波器標配的串行總線解碼功能對TXD輸出TTL-RS232信號進行解碼。

解碼設置：

波特率9600bps，無校檢位，數(shù)據(jù)8位，1停止位，空閑電平為高電平，比特流格式LSB，解碼輸出ASCII碼。

解碼輸出10位卡號為1400903AA9。

用多個ID卡測試，發(fā)現(xiàn)此讀寫模塊輸出正常：

但是由于此讀寫模塊工作頻段為低頻，射頻輸出功率小，檢測ID卡的距離十分有限，約只有五厘米。

測試總結：

以上就是關于低頻RFID的簡單測試流程。低頻RFID主要應用于低端技術范圍內，技術要求和測試流程相對簡單。高頻和超高頻RFID測試標準更加注重信號質量，即需要對信號進行IQ解調曲線和數(shù)據(jù)分析，ASK/FSK解調分析等。