微束XRF涂層厚度和材料分析儀，方便快速進(jìn)行質(zhì)量控制和驗(yàn)證測(cè)試，在幾秒內(nèi)即可獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。
基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認(rèn)可的分析方法，提供易于使用、快速和無(wú)損的分析，幾乎不需要樣本制備，能夠分析元素周期表上從13Al 到92U 的固體或液體樣品。
最大化精度，最小化浪費(fèi)
當(dāng)決定產(chǎn)品成敗的差異小于1微米時(shí)，請(qǐng)選擇X-Strata920進(jìn)行精確鍍層分析。
如果您在電子產(chǎn)品或金屬表面處理行業(yè)工作，我們可提供適于您業(yè)務(wù)的解決方案。X-Strata920具有多種配置選擇，可分析單鍍層和多鍍層（包括合金層）。
我們的內(nèi)部專家會(huì)對(duì)常規(guī)和復(fù)雜鍍層結(jié)構(gòu)進(jìn)行測(cè)試測(cè)量，確保您獲得可靠、可重復(fù)結(jié)果以滿足數(shù)百種應(yīng)用，包括：PCB表面處理、連接器鍍層、耐腐蝕處理、裝飾表面處理、耐磨損處理、耐高溫性等。
X-Stata920提供四種基臺(tái)配置以適應(yīng)任意形狀的零件。帶有標(biāo)準(zhǔn)或?qū)捁潭ɑ_(tái)的開槽的樣品艙適合處理小型零件或長(zhǎng)而薄的樣品，而加深樣品艙則可靈活測(cè)量較高的零件。選擇程控樣品臺(tái)，可自動(dòng)測(cè)量多個(gè)樣品或單個(gè)組件上的各個(gè)位置。
為工作選擇正確的工具
通過(guò)選擇比例計(jì)數(shù)器或硅漂移探測(cè)器（SDD），可確保擁有正確配置。
比例計(jì)數(shù)器適用于大多數(shù)應(yīng)用場(chǎng)合，但對(duì)于含有少量種類元素的簡(jiǎn)單鍍層結(jié)構(gòu)而言，其效果最佳。當(dāng)您需要分析更復(fù)雜的鍍層結(jié)構(gòu)或需要測(cè)量非常薄的鍍層（<0.05μm）時(shí)，推薦使用SDD。
X-Strata920 這一出色的工具可確保樣品符合規(guī)格，同時(shí)通過(guò)避免過(guò)度電鍍?cè)斐傻幕瘜W(xué)品浪費(fèi)和減少電鍍不足造成的廢料和返工來(lái)降低成本。操作員只需加載樣品，將其定位在屏幕上的目標(biāo)下方，使用激光焦點(diǎn)對(duì)齊，即可開始測(cè)量。結(jié)果在幾秒內(nèi)即可顯示出來(lái)，然后操作員可快速執(zhí)行下一個(gè)任務(wù)。這意味著您可確保在操作中最大限度地提高生產(chǎn)力。得益于通過(guò)可追溯標(biāo)準(zhǔn)打造的優(yōu)化校準(zhǔn)方式，您將對(duì)結(jié)果的準(zhǔn)確性充滿信心。
使用X-Strata920可遵從各種行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，如IPC4552A、ISO 3497、ASTM B568和DIN 50987。
日立邀請(qǐng)您參加SFChina 2020 中國(guó)國(guó)際表面處理展
日期：2020年12月8-10日
地點(diǎn)：廣州中國(guó)進(jìn)出口商品交易會(huì)展館A區(qū)
日立展位號(hào)：5.1B47
我們的解決方案：我們的鍍層測(cè)厚儀、電子顯微鏡、白光干涉儀系列為從耐腐蝕和耐磨飾面到裝飾飾面涂層的各種應(yīng)用提供快速、無(wú)損檢測(cè)。
歡迎您來(lái)現(xiàn)場(chǎng)與我們進(jìn)行面對(duì)面的交流。
