隨著光學(xué)、光電子技術(shù)的高速發(fā)展，光譜測(cè)量分析已不再局限于電信領(lǐng)域，在工業(yè)制造、生物研究、醫(yī)療保健、科學(xué)教育等領(lǐng)域?qū)梢?jiàn)近紅外波段高性能激光的應(yīng)用，推動(dòng)了更寬波長(zhǎng)范圍、更高分辨率、更快速度光譜測(cè)量分析的需求。

圖1  Ceyear 6362C光譜分析儀

當(dāng)前，光譜測(cè)量分析技術(shù)面臨測(cè)試波長(zhǎng)范圍窄、測(cè)試速度慢、邊模小信號(hào)尋找難、測(cè)試效率低等問(wèn)題。為解決上述問(wèn)題，思儀科技成功突破了可見(jiàn)近紅外波段（350nm-1200nm）高性能光譜分析技術(shù)，應(yīng)用在6362C光譜分析儀中，最小光譜分辨帶寬突破10pm。作為新一代光譜分析技術(shù)，Ceyear 6362C在保證分辨率的同時(shí)，掃描速度也獲得了突破，通過(guò)改變采樣點(diǎn)數(shù)、靈敏度、掃描速度等參數(shù)，單次掃描時(shí)間最快可突破200ms，極大地提高了測(cè)試效率，能夠清晰表征光譜細(xì)節(jié)信息，快速精細(xì)還原光譜特征。

圖2  633nm光源測(cè)試

6362C光譜分析儀具有高速、精確、靈活、可靠的技術(shù)特點(diǎn)，應(yīng)用范圍極為廣泛，主要性能如下：

思儀科技6362C光譜分析儀不僅滿足了當(dāng)前的測(cè)試需求，也為未來(lái)的高速性能光譜測(cè)試分析奠定了堅(jiān)實(shí)的技術(shù)基礎(chǔ)。