近期，第68屆匹茲堡國(guó)際實(shí)驗(yàn)室儀器展覽會(huì)在美國(guó)芝加哥展覽中心舉行。地調(diào)局實(shí)驗(yàn)測(cè)試中心、北京鋼研納克檢測(cè)技術(shù)有限公司、地調(diào)局南京地調(diào)中心等共同自主研發(fā)的 CNX-808WE 波譜-能譜復(fù)合型X射線熒光光譜儀驚艷亮相，受到眾多專家學(xué)者的關(guān)注。
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該儀器集波譜、能譜、微X射線分析于一身，集成了波譜和能譜的優(yōu)點(diǎn)，擴(kuò)展了X射線熒光光譜儀的分析領(lǐng)域，搭建了從厘米級(jí)總體分析到毫米級(jí)分布分析的橋梁。許多參加展會(huì)的客商，對(duì)CNX-808WE 波譜-能譜復(fù)合型X射線熒光光譜儀表示了極大的興趣，并現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行了詳細(xì)咨詢。
通過這次參展，不僅了解到了儀器行業(yè)的最新行情，開拓了國(guó)際視野，為今后的儀器研發(fā)工作帶來了新的理念，更有助于該項(xiàng)成果的市場(chǎng)化。
