4042系列頻譜分析儀是思儀科技2023年推出的開陽星系列經(jīng)濟型測試產(chǎn)品，旨在提供高性價比的測試解決方案。思儀科技堅持“以顧客為中心，超越顧客期望“的理念，通過持續(xù)提升產(chǎn)品功能，為助推用戶開啟創(chuàng)新創(chuàng)業(yè)、提升測試的戰(zhàn)斗力。此次全新增加矢量信號分析、相位噪聲測試、EMI分析等多種測量功能，可滿足多種場景測試需求，是追求高性價比頻譜儀客戶的不二之選。

圖1 4042系列頻譜分析儀

1.全新增加矢量信號分析功能選件

傳統(tǒng)的掃頻分析只能進行功率和頻率測量，無法測量數(shù)字信號的信號質(zhì)量。數(shù)字調(diào)制信號的低成本高效測量是目前眾多用戶的痛點。4042系列頻譜分析儀可提供最大帶寬40MHz的矢量信號分析功能，可對PSK、FSK、MSK、QAM等多種通用單載波數(shù)字調(diào)制信號進行時域、頻域和調(diào)制域的聯(lián)合信號分析，并可提供EVM、矢量圖、星座圖、頻譜圖等豐富的測試結果。4042系列頻譜分析儀內(nèi)置參考信號生成功能，可對測量信號的調(diào)制質(zhì)量和調(diào)制誤差進行分析，并輔助診斷增益不平衡、正交誤差等信號問題，可幫助用戶解決數(shù)字信號發(fā)射機的信號質(zhì)量測試問題。

圖2 矢量信號分析界面

2.全新增加相位噪聲測試功能選件

相位噪聲測量主要用于確定本振、混頻器和放大器等射頻組件的短期頻率穩(wěn)定性。如何快速準確的測量相位噪聲，加快用戶調(diào)試速度是開發(fā)此功能的初衷。4042相位噪聲測試功能提供單邊帶相位噪聲曲線和單點相位噪聲測試的一鍵式測量方法，可快速地完成發(fā)射機的相位噪聲指標測試，幫助用戶提高測試效率。

圖3 相位噪聲測試界面

3.全新增加EMI分析功能選件

在電子產(chǎn)品的新產(chǎn)品研制過程中往往需要通過電磁兼容性認證，而EMC的認證費用高且認證周期長，用戶往往難以承受，因此降低研發(fā)成本、提高認證測試一次性通過率是用戶的迫切需求。4042系列頻譜分析儀的 EMI分析功能選件可以協(xié)助用戶進行電磁兼容預測試，及早發(fā)現(xiàn)EMI問題并采取對策，該選件具有準峰值、CISPR平均值、CISPR有效值等檢波方式，搭配近場探頭可完成印制板、部件、整機的電磁兼容預測試，提高認證測試的通過率，為客戶大幅節(jié)省測試時間和成本。

圖4 EMI分析測試

4.全新增加上架套件選件

根據(jù)需求搭建專用測試系統(tǒng)便于測試儀器的集成，是部分用戶提高研發(fā)與生產(chǎn)調(diào)試的便捷性與高效性的迫切需求。4042系列頻譜分析儀新增6U標準上架套件選件，可實現(xiàn)標準機箱的完美嵌套，同時可提供程控函數(shù)庫供用戶進行快速二次開發(fā)，方便用戶系統(tǒng)集成，滿足實驗室或者工業(yè)環(huán)境中的系統(tǒng)集成測試需求。

圖5 上架套件圖片

4042系列頻譜分析儀在性能方面具有優(yōu)異的相位噪聲、靈敏度及掃描速度，功能方面具備實時頻譜、矢量信號分析等多種測量功能模式，具有較高的性價比，無論是在產(chǎn)線、實驗室、現(xiàn)場測試中都能輕松駕馭，可為用戶的頻譜測試提供比較完善的低成本高效率解決方案。