當憶阻器應用于存算一體芯片時，需要進行陣列級測試，以驗證其在大規(guī)模協(xié)同計算中的表現。測試內容包括：

●  存算一體芯片的計算精度測試，確保大規(guī)模憶阻器陣列在AI任務中的計算誤差可控。

●  端到端AI推理性能測試，直接運行神經網絡算法，并對計算結果進行評估。

●  數據保持特性，評估憶阻器在長時間存儲時的穩(wěn)定性。

3、現實環(huán)境模擬測試

為了確保憶阻器可以應用于實際場景，需要進行多種環(huán)境因素的模擬測試：

●  溫度可靠性測試，研究憶阻器在不同溫度范圍（如 -40℃ 至 125℃）下的穩(wěn)定性。

●  濕度影響測試，確保憶阻器在高濕度環(huán)境下不會發(fā)生數據丟失。

●  輻射耐受性測試，評估憶阻器在航天、醫(yī)療等特殊環(huán)境中的適用性。

Tektronix：助力憶阻器產業(yè)化的測試方案

作為全球領先的測試測量設備提供商，Tektronix提供全面的憶阻器測試解決方案，幫助研究人員和企業(yè)加速憶阻器技術的商業(yè)化。

1、4200A-SCS半導體參數分析儀

●  高精度源測單元（SMU）：支持 DC、低頻 AC 測試，確保憶阻器的電學性能。

●  納秒級脈沖測量（PMU）：精準測試憶阻器在 AI 計算中的動態(tài)表現。

2、矩陣開關測試方案

●  Keithley 3706系列矩陣開關，適用于大規(guī)模憶阻器陣列測試，低漏電特性確保精準測量。

3、自動化測試與數據分析

●  Tektronix TMAS平臺，支持Python可編程測試，提供自動化數據采集和分析。

未來展望：憶阻器是否能引領AI計算新時代？

憶阻器存算一體架構正在快速發(fā)展，預計在未來5-10年內將進入商業(yè)化應用。隨著AI大模型計算需求的持續(xù)增長，憶阻器將在高密度存儲、低功耗計算方面發(fā)揮越來越重要的作用。

Tektronix將繼續(xù)推動憶阻器測試技術的發(fā)展，為存算一體計算架構的未來提供最前沿的測量方案！