另一種減少測試時間的方法是通過向多個DUT發(fā)送相同的波形來同時執(zhí)行多個RX測試。通過將每個DUT分配到相應的軟件線程，所有DUT均可同時啟動。使用如圖5所示的技術，多DUT的測試時間相比流水線測試可減少25%，相比串行測試設備可減少超過50%。

圖5：并行RX測試時間框圖

F.其他多DUT測試方法

流水線和并行RX測試僅僅只是兩個例子來說明如何提高WLAN制造測試的吞吐量而無需添加額外測試設備。由于測試軟件變得日益復雜且設備控制驅動程序針對測試不斷進行優(yōu)化，新的測試方法將繼續(xù)涌現(xiàn)以幫助設備制造商不斷提高測試吞吐量，降低測試成本，同時跟上未來無線技術發(fā)展的步伐。

III.多DUT制造測試方法

選擇用于并行多DUT WLAN生產(chǎn)測試的測試設備時，必須確保所選的設備采用了最新的商業(yè)現(xiàn)成可用(COTS)技術，以在最大程度提高當前吞吐量的同時，獲得針對未來需求的可擴展性，包括從多核CPU處理器和用于數(shù)據(jù)分析和數(shù)據(jù)傳輸?shù)臄?shù)據(jù)總線，到用于管理并行測試的多線程軟件架構。

A.多核處理器和儀器數(shù)據(jù)總線

通常RF測試系統(tǒng)中最昂貴的部件是用于生成和接收RF信號的電路。許多其它組件，如存儲器、硬盤驅動器和CPU處理器常見于個人計算機，因此產(chǎn)品生命周期較短且非常廉價。選擇測試系統(tǒng)時，還需要確保該系統(tǒng)易于根據(jù)市場上出現(xiàn)的新COTS進行升級。

PXI是一種基于PC的堅固測試平臺，提供了用于測量和自動化系統(tǒng)的高性能、低成本部署解決方案，包括無線產(chǎn)品生產(chǎn)測試。PXI結合了PCI Express的電氣總線特性與堅固的機械封裝，并增加了用于制造測試的專用同步總線和主要軟件特性。這種強大的組合為設備制造商測試提供了目前市場上具有最高吞吐量和最低延遲數(shù)據(jù)總線的解決方案之一，它顯著地降低了測試時間。PXI的另一個優(yōu)勢是嵌入式計算機，通常也稱為PXI嵌入式控制器，其在緊湊的外形結構中提供了最新的高新能CPU處理器。這種模塊化特性可允許用戶在出現(xiàn)新技術時以相對低的成本升級整個無線測試系統(tǒng)。

圖6：NI PXI Express機箱包含射頻分析儀和發(fā)生器、矢量網(wǎng)絡分析儀、開關、電源和嵌入式計算機

B.多線程軟件架構

正如本文前面例子中所提到的測試方法，在選擇大規(guī)模多DUT無線制造的測試系統(tǒng)時，系統(tǒng)的軟件架構必須具有多線程且可進行并行測試。NI LabVIEW是一種具有內(nèi)在并行機制的圖形化編程語言，非常適用于多DUT制造測試。相對于順序語言，LabVIEW圖形化數(shù)據(jù)流程序本身包含有哪些部分可以并行運行的信息。