簡(jiǎn)介
本文提供了使用基于PXI的Marvin數(shù)字子系統(tǒng)替換Trendar / Fluke 3050B數(shù)字子系統(tǒng)的方法。該方法僅針對(duì)Fluke 3050B的數(shù)字測(cè)試功能的一部分，參考文檔基于1983年2月的3050B數(shù)字/模擬測(cè)試系統(tǒng)手冊(cè)（Rev. 1,2 / 8）獲得的信息。
背景
Fluke 3050B測(cè)試系統(tǒng)為PCBA提供自動(dòng)數(shù)字和模擬的功能測(cè)試。通過連接器適配器與UUT連接，該連接器適配器連接到（4）156針ZIF連接器。圖1為系統(tǒng)圖片。
圖1：Fluke 3050B系統(tǒng)
3050B具有兩種pass/fail測(cè)試模式 - 比較模式和簽名模式。比較模式通過比較已確定為良好的UUT和被測(cè)UUT之間的數(shù)字刺激響應(yīng)來(lái)實(shí)現(xiàn)；將I/O引腳狀態(tài)，電路板的IC夾具和邏輯探針逐步進(jìn)行比較。簽名模式僅使用單個(gè)板，并且通過將UUT的I/O引腳生成的CRC（循環(huán)冗余校驗(yàn)）簽名與先前測(cè)試的已知良好板的簽名進(jìn)行比較，實(shí)現(xiàn)pass/fail決策。
3050B還包括使用稱為ADS環(huán)境進(jìn)行故障診斷，該環(huán)境是一種引導(dǎo)探測(cè)算法，可以根據(jù)UUT原理圖，拓?fù)浜徒M件進(jìn)行故障診斷。ADS執(zhí)行診斷所需的輸入包括：
IC類型和位置文件
IC類型定義文件
優(yōu)先級(jí)節(jié)點(diǎn)文件（可選）
從 - 到互連文件
板邊優(yōu)先文件（可選）
標(biāo)簽文件（用于文檔）
3050B提供了兩個(gè)探測(cè)器，用于監(jiān)視/比較UUT上的節(jié)點(diǎn)。探頭邏輯閾值可選擇1 V，2 V，5 V，7 V或可變（-10至+10 V）。IC夾（16針）的使用具有類似的特性，可變范圍為0至+10V
3050B數(shù)字子系統(tǒng)的主要功能總結(jié)如下：
最多240個(gè)I / O引腳，以32引腳為增量; 基本配置是64針
低電平驅(qū)動(dòng)器輸出小于或等于0.7 V @ 10 mA
高電平驅(qū)動(dòng)器輸出可通過連接器適配器中的跳線,進(jìn)行編程選擇（輸出范圍見圖2）
驅(qū)動(dòng)器測(cè)試速率：1 MHz，（某些模式下為2 MHz）
接收器閾值范圍：基于驅(qū)動(dòng)器電壓電平的1.8 V至3.5 V（見圖3）
存儲(chǔ)序列：最多2048 bits
測(cè)試長(zhǎng)度：可編程為20K，40K，100K，200K，400K，1M，2M，4M，10M，20M，40M
測(cè)試儀時(shí)鐘頻率：可編程為1 Hz至9.99 MHz的3位數(shù)字
圖2：輸出驅(qū)動(dòng)器范圍
圖3：接收器閾值范圍
序列執(zhí)行包括以下功能：
