與所有開發(fā)流程一樣，您需要進行詳細的分析來評估性能、查驗問題。如果不能使用詳細的統(tǒng)計數(shù)據(jù)在協(xié)議層面上量化評測OFDMA 性能，您如何快速解決問題？對涉及多個并發(fā)真實客戶端的測試會話進行調(diào)試和診斷涉不僅難度很大，還很耗時。從協(xié)議層面了解問題能夠?qū)⒔鉀Q問題的時間縮短一半。
那么，如何彌合Wi-Fi 6 測試的差距？
關(guān)鍵測試要求
新Wi-Fi 6 測試解決方案需要測量多用戶OFDMA 在大規(guī)模通信時的性能提升。此外，該解決方案必須提供有狀態(tài)的客戶端，并考慮到在80 MHz 帶寬中同時使用各種資源單元組合的用戶。此外，硬件和軟件都必須具有高性能。該解決方案必須在各種大小的幀上實現(xiàn)理論上的最大速率，提供時序極其準確的客戶端生成和分析，并生成詳細統(tǒng)計數(shù)據(jù)。
這里的關(guān)鍵在于通過距接入點不同距離的各種Wi-Fi 6 和傳統(tǒng)客戶端組合對真實網(wǎng)絡(luò)進行建模，從而驗證AP調(diào)度程序的性能。每個解決方案都必須能夠完全控制Wi-Fi 客戶端的特性。實時統(tǒng)計數(shù)據(jù)可以提供關(guān)鍵洞察，幫助您關(guān)聯(lián)不同層的Wi-Fi 6 網(wǎng)絡(luò)性能。單次捕獲視圖可以幫助您調(diào)試和診斷多用戶OFDMA問題。全面的客戶端和測試控制與高級分析相結(jié)合，可以加快解決問題和驗證Wi-Fi 6 特性。
最后，該解決方案必須將客戶端仿真、流量生成和分析以及多用戶OFDMA數(shù)據(jù)包捕獲功能整合到一個平臺上，使其成為驗證基于802.11標準的產(chǎn)品的理想一體化解決方案。
關(guān)鍵測試值包括：
?使用有可行性的 KPI 來衡量和優(yōu)化AP調(diào)度程序性能。
?通過仿真真實部署來衡量具有多個Wi-Fi站和三重播放流量的Wi-Fi 6 OFDMA性能提升。
?通過線速捕獲數(shù)據(jù)包和實時統(tǒng)計，縮短調(diào)試和診斷時間，從而加速產(chǎn)品上市。
?使用不同的Wi-Fi 6與傳統(tǒng)客戶端組合在不同距離驗證真實網(wǎng)絡(luò)性能。
?使用REST-API進行自動化定制開發(fā)。
驗證 Wi-Fi 6設(shè)備和網(wǎng)絡(luò)的關(guān)鍵測試系統(tǒng)功能
測試解決方案
Keysight WaveTest 6 是是德科技的一款能夠?qū)φ鎸嵅渴饒鼍斑M行建模并衡量多用戶 OFDMA 性能提升的專用解決方案。
每個 WaveTest 6 最多可以擴展到 2000 個有狀態(tài)客戶端（在多端口模式下），并且能夠處理所有組合的并發(fā) RU分配。這種專用硬件設(shè)計用于跨所有客戶端配置對 AP進行基準測試。
測試六：400GE及更高速度
云計算、人工智能和5G 的大規(guī)模增長對支持400G 及更高速度的大帶寬、可擴展解決方案提出了更大需求。400GE 已經(jīng)開始普及并將在未來幾年持續(xù)增長。即將到來的800GE 以新112 Gb/s 電氣通道技術(shù)為基礎(chǔ)，要求整體性能、可擴展性和互操作性等測試必須隨之增強。您需要與測試廠商通力合作，才能確保在需要的時候獲得所需的測試工具。這決定了您能否盡早將創(chuàng)新產(chǎn)品推向市場。
關(guān)鍵測試要求
為了應(yīng)對交換機、路由器和其他器件不斷增加的端口數(shù)，測試平臺的端口密度也在不斷增加。要想獲得所需的端口密度來驗證25.6 Tbps 及更高速率的交換平臺，您需要高端口數(shù)的測試解決方案，以便能夠生成多TB 數(shù)據(jù)并能同時分析最高400 萬個流量流。在進行高性能測試時，請確保您的測試解決方案不會因為扇出到200GE、100GE 和50GE 而失去傳輸流能力和接收側(cè)的測量跟蹤和測量能力。
1. 靈活驗證PAM4和NRZ編碼技術(shù)
采用400GE 的前提是必須有8 個56 Gb/s 電接口并且使用了PAM4 編碼技術(shù)。當前的大多數(shù)交換機專用集成電路(ASIC) 都支持新PAM4 調(diào)制以及在低速技術(shù)中使用的傳統(tǒng)非歸零(NRZ) 編碼，這讓100GE 升級為400GE 變得更加簡單。在這些平臺上對從10GE 到400GE 的全部七種速度都進行測試比較有難度。互聯(lián)網(wǎng)應(yīng)用的帶寬需求日益增長，為了滿足這些需求，您必須對3.2、6.4、12.8、25.6 Tbps ASIC 線速流量都進行測試。
面向400GE系統(tǒng)的關(guān)鍵測試能力
2．BER和FEC性能測試
可靠的網(wǎng)絡(luò)性能取決于您驗證光模塊、銅纜和鏈路層的能力。測試器件的功能互操作性及其長期比特誤碼率(BER) 和前向糾錯(FEC) 符號性能。了解器件是否會隨著時間和溫度變化而產(chǎn)生突發(fā)錯誤，以及如何發(fā)現(xiàn)這些難以捉摸的突發(fā)錯誤，這些能力都非常重要。許多廠商還需要獲得功能強大的測試解決方案，才能表征和量化評測硅器件、ASIC、光纖和銅纜互連、光收發(fā)信機以及端口電子器件的實際 BER 和 FEC 性能。
3．通過現(xiàn)場升級滿足不斷提高的測試需求
