NI（已正式成為艾默生一員，現(xiàn)作為艾默生旗下新的測試與測量業(yè)務集團運營）近日宣布了一項新計劃，利用NI Global Operations（GO，前身為Optimal+）平臺在邊緣側(cè)提供實時的半導體分析解決方案。這種更新水平的基礎設施和控制能力為平臺用戶、NI自身、乃至第三方人員開發(fā)更先進和更定制化的應用程序打開了大門。此次發(fā)布的亮點是NI GO生態(tài)系統(tǒng)中的新支持層以及開始與領先ATE供應商泰瑞達（Teradyne）的合作。

OptimalPlus GO

對半導體測試操作的質(zhì)量、良率、吞吐量和功能需求的不斷提高激發(fā)了工程師對開發(fā)更好、響應更快的測試控制的興趣。為了解決這個問題，新的NI全球運營實時應用支持層（NI Global Operations Real-time Application Enablement Layer ）將現(xiàn)有的GO平臺功能擴展到安全、低延遲的測試服務器，以便分析模型可以與測試執(zhí)行同時運行。

NI副總裁兼測試與分析軟件總經(jīng)理Rudy Sengupta補充道：“半導體行業(yè)的所有趨勢都表明需要更加重視測試。為了跟上步伐，我們的客戶需要更快地做出測試決策，這就意味著與測試本身的節(jié)奏要保持一致。為了實現(xiàn)這一點，我們了解生態(tài)系統(tǒng)協(xié)作的價值，并將我們新的實時支持層和ATE合作伙伴關系視為價值的關鍵轉(zhuǎn)折點，我們可以從測試分析中得到驗證?！?

新的支持層通過添加對ATE測試平臺的集成支持，進一步提升了NI GO的開放架構(gòu)和強大的分析能力。他們的本地數(shù)據(jù)、安全性和通信協(xié)議與NI GO后端分析相結(jié)合，為半導體測試中的實時控制創(chuàng)建了完整且值得信賴的解決方案。從和泰瑞達的合作開始，意味著他們的測試人員將能夠使用這些新功能。此外，開放式架構(gòu)將在未來允許支持所有ATE供應商和平臺，更多計劃即將發(fā)布。

通過直接與ATE供應商合作，NI可以確保圍繞這些聯(lián)合解決方案提供長期支持、協(xié)作和創(chuàng)新。這些關系旨在實現(xiàn)一種組合的集成架構(gòu)，可以更好地利用ATE服務器，為半導體測試優(yōu)化提供新的可能性。ATE供應商增加投資，通過安全、集成的邊緣側(cè)解決方案支持他們的測試平臺，現(xiàn)在這一切成為了可能。

泰瑞達Teradyne Archimedes分析解決方案將數(shù)據(jù)分析、人工智能和機器學習等技術集成到測試解決方案中。其開放式架構(gòu)支持領先的分析解決方案模型，并支持安全的實時數(shù)據(jù)流，對測試時間的影響幾乎為零，從而提高質(zhì)量、提高產(chǎn)量并減少測試儀的停機時間。

泰瑞達半導體測試營銷副總裁Regan Mills表示：“泰瑞達很高興與NI合作，支持其GO平臺上的高級分析。先進的學習模型與安全、真實的數(shù)據(jù)相結(jié)合，對于提供高質(zhì)量的終端產(chǎn)品和支持新興技術至關重要。NI的Go平臺和泰瑞達的Archimedes提供了端到端解決方案，可在安全且受保護的環(huán)境中提供實時數(shù)據(jù)的全生命周期管理?！?

作為泰瑞達Archimedes生態(tài)系統(tǒng)的一員，NI GO分析模型和應用程序獲得了比以往任何時候都更接近測試活動的可用計算資源，這意味著可以在測試執(zhí)行期間觸發(fā)數(shù)據(jù)驅(qū)動的操作和控制。此外，這些模型受益于ATE服務器本機的安全協(xié)議，這意味著所有數(shù)據(jù)和IP都得到充分保護。因此，現(xiàn)有的解決方案，例如Re-binning或DPAT，可以更具實時影響力，同時也為下一代解決方案和從未被認為可能的DIY解決方案（例如漂移檢測）打開了大門。

NI的這一發(fā)展不僅僅是對近期半導體測試和數(shù)據(jù)分析生態(tài)系統(tǒng)變化的貢獻。它完成了從測試儀、到邊緣端、到云端、再返回的整個分析流程。這意味著基于ATE的實時模型不是孤立的或停滯的。它們由一個更大的數(shù)據(jù)分析生態(tài)系統(tǒng)提供動力，將所以測試人員和測試層（內(nèi)部和外部）連接到一個單一的大數(shù)據(jù)實例，允許更深入的學習以獲得更具影響力、不斷更新的洞察。此外，GO邊緣服務器充當模型和應用程序管理中心，以確保實時模型得到有效部署、更新、跟蹤和停產(chǎn)。

通過將實時控制與完整的自適應分析后端相結(jié)合，NI GO + ATE解決方案旨在成為市場上最具影響力的測試控制功能。