近日，合肥工業(yè)大學(xué)研究人員在光學(xué)測量領(lǐng)域首次提出一種分析方法，在精密測量中實現(xiàn)了高階標(biāo)定模型的計算效率和穩(wěn)定性的大幅提升。該成果被《測量科學(xué)與技術(shù)》評選為亮點論文。

條紋投影掃描測量技術(shù)憑借非接觸式測量、測量速度快以及測量精度高等優(yōu)點，廣泛應(yīng)用于逆向工程、文物保護(hù)等復(fù)雜曲面幾何參數(shù)的精密測量領(lǐng)域。但由于條紋投影掃描測量技術(shù)需要通過高階模型進(jìn)行標(biāo)定，在測量中獲取的各項數(shù)據(jù)在高階模型中標(biāo)定較為困難，從而影響了測量結(jié)果的穩(wěn)定性。

研究人員針對標(biāo)定模型優(yōu)化、自適應(yīng)有效點云識別以及相位誤差精確補償?shù)汝P(guān)鍵問題，提出了創(chuàng)新性的解決辦法，從而獲取了高精度的三維輪廓點云。同時，該團(tuán)隊首次提出一種確定高階標(biāo)定模型中各組成項對重構(gòu)結(jié)果重要性的分析方法，可在測量過程中識別并剔除對重構(gòu)結(jié)果影響微小的組成項，并通過優(yōu)化高階標(biāo)定模型，在保證精度的前提下，提升了高階標(biāo)定模型的計算效率和穩(wěn)定性。

據(jù)介紹，該成果可廣泛應(yīng)用于高精度光學(xué)三維掃描領(lǐng)域。目前，該團(tuán)隊已在條紋投影測量技術(shù)領(lǐng)域申請4項國家發(fā)明專利。

新的光學(xué)測量方法不僅能夠?qū)崿F(xiàn)高階標(biāo)定模型的計算效率和穩(wěn)定性，并且提高了測量速度以及測量精度，能夠為今后光學(xué)測量儀器設(shè)備提高技術(shù)上的支持和創(chuàng)新，同時能夠得到更為精準(zhǔn)的分析數(shù)據(jù)。