一、增益壓縮基本概念

作為構(gòu)成系統(tǒng)的核心器部件，放大器被廣泛應用于雷達、衛(wèi)星等通信系統(tǒng)以及其他各類射頻和微波系統(tǒng)。放大器具有增益壓縮特性，其正常工作時通常位于線性區(qū)域內(nèi)，隨著輸入功率增加，放大器會趨于飽和，工作狀態(tài)由線性區(qū)轉(zhuǎn)變?yōu)榉蔷€性區(qū)，產(chǎn)生增益下降、諧波增大等現(xiàn)象。

1dB壓縮點表示放大器增益比預期線性增益小1dB時對應的增益壓縮點，P1dB,in是1dB壓縮點的輸入功率，P1dB,out是1dB壓縮點的輸出功率，如圖1所示。

圖1 放大器的增益壓縮特性及1dB壓縮點

二、增益壓縮測量參數(shù)

測量參數(shù)包括線性區(qū)參數(shù)和增益壓縮參數(shù)，詳見表1。

表1 測量參數(shù)列表

三、測試系統(tǒng)組成

本測試系統(tǒng)屬于9308A微波S參數(shù)及多功能參數(shù)在片測試系統(tǒng)，如圖2所示，系統(tǒng)配置包括：

微波芯片在片測試主機（Ceyear 3674L矢量網(wǎng)絡分析儀）；

探針臺等測試設備：Ceyear 88602AS 12英寸半自動探針臺、微波探針座及探針臂、67GHz微波探針、SOLT在片校準片、芯片圖像顯微單元；

測試功能單元：4端口S參數(shù)測試、大動態(tài)S參數(shù)、增益壓縮點測試、二維增益壓縮失真測試、在片網(wǎng)絡參數(shù)快速校準功能；

測試附件：程控電源、功率探頭、偏置T、微波測試電纜、同軸連接器。

圖2 微波芯片在片測試系統(tǒng)及結(jié)構(gòu)框圖

四、校準和測試

系統(tǒng)校準包含三個方面：第一是源輸出功率，通常使用功率探頭進行校準；第二是接收機功率，使用校準后的源功率進行校準；第三是系統(tǒng)的網(wǎng)絡參數(shù)誤差，根據(jù)被測芯片的工作頻段，選擇SOLT或TRL校準片進行在片校準。本系統(tǒng)設計良好的操作向?qū)?，測試時按照引導逐步進行。

在片測試工程師在測試時尤其需要注意以下三個問題：一是探針扎針穩(wěn)妥可靠，保證系統(tǒng)的穩(wěn)定和重復性，如圖3所示；二是放大器的加電順序，先給柵極加負壓，后給漏極加電，防止燒壞被測器件；三是兼顧測試精度和速度，設置合適的中頻帶寬。

圖3 顯微鏡下的扎針圖像

五、測試結(jié)果和總結(jié)

系統(tǒng)可一次測試上述參數(shù)的所有曲線，本次將線性S參數(shù)（S11、S12、S21、S22）、增益壓縮參數(shù)（壓縮點輸入功率、輸出功率、增益、壓縮量）8條參數(shù)軌跡同時顯示，如圖4所示。便于讀取測量值，各條軌跡可單獨設置合理的顯示比例和參考值，并顯示在界面的正上方。

系統(tǒng)根據(jù)被測件頻率、功率、增益的測量結(jié)果生成三維視圖顯示，如圖5所示，直觀地反映被測件的增益壓縮特性。

圖4 系統(tǒng)測試結(jié)果

圖5 測試結(jié)果的三維顯示

由本實驗可以看出，系統(tǒng)一次扎針，即可測量全部S參數(shù)和增益壓縮參數(shù)，使用方便快捷，大大提升在片測試效率。