信號(hào)完整性測(cè)試的手段有很多，主要的一些手段有波形測(cè)試、眼圖測(cè)試、抖動(dòng)測(cè)試等,目前應(yīng)用比較廣泛的信號(hào)完整性測(cè)試手段應(yīng)該是波形測(cè)試,即——使用示波器測(cè)試波形幅度、邊沿和毛刺等,通過(guò)測(cè)試波形的參數(shù),可以看出幅度、邊沿時(shí)間等是否滿(mǎn)足器件接口電平的要求,有沒(méi)有存在信號(hào)毛刺等。

信號(hào)完整性的測(cè)試手段主要可以分為三大類(lèi)，下面對(duì)這些手段進(jìn)行一些說(shuō)明。

抖動(dòng)測(cè)試

抖動(dòng)測(cè)試現(xiàn)在越來(lái)越受到重視，因?yàn)閷?zhuān)用的抖動(dòng)測(cè)試儀器，比如 TIA(時(shí)間間隔分析儀)、SIA3000，價(jià)格非常昂貴，使用得比較少。使用得最多是示波器加上軟件處理，如 TEK 的 TDSJIT3 軟件。通過(guò)軟件處理，分離出各個(gè)分量，比如 RJ 和 DJ，以及 DJ 中的各個(gè)分量。對(duì)于這種測(cè)試，選擇的示波器，長(zhǎng)存儲(chǔ)和高速采樣是必要條件，比如 2M 以上的存儲(chǔ)器，20GSa/s 的采樣速率。不過(guò)目前抖動(dòng)測(cè)試，各個(gè)公司的解決方案得到結(jié)果還有相當(dāng)差異，還沒(méi)有哪個(gè)是權(quán)威或者行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。

波形測(cè)試

首先是要求主機(jī)和探頭一起組成的帶寬要足夠?；旧蠝y(cè)試系統(tǒng)的帶寬是測(cè)試信號(hào)帶寬的 3 倍以上就可以了。實(shí)際使用中，有一些工程師隨便找一些探頭就去測(cè)試，甚至是 A 公司的探頭插到 B 公司的示波器去，這種測(cè)試很難得到準(zhǔn)確的結(jié)果。

波形測(cè)試是信號(hào)完整性測(cè)試中最常用的手段，一般是使用示波器進(jìn)行，主要測(cè)試波形幅度、邊沿和毛刺等，通過(guò)測(cè)試波形的參數(shù)，可以看出幅度、邊沿時(shí)間等是否滿(mǎn)足器件接口電平的要求，有沒(méi)有存在信號(hào)毛刺等。由于示波器是極為通用的儀器，幾乎所有的硬件工程師都會(huì)使用，但并不表示大家都使用得好。波形測(cè)試也要遵循一些要求，才能夠得到準(zhǔn)確的信號(hào)。

其次要注重細(xì)節(jié)。比如測(cè)試點(diǎn)通常選擇放在接收器件的管腳，如果條件限制放不到上面去的，比如 BGA 封裝的器件，可以放到最靠近管腳的 PCB 走線(xiàn)上或者過(guò)孔上面。距離接收器件管腳過(guò)遠(yuǎn)，因?yàn)樾盘?hào)反射，可能會(huì)導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果和實(shí)際信號(hào)差異比較大;探頭的地線(xiàn)盡量選擇短地線(xiàn)等。

最后，需要注意一下匹配。這個(gè)主要是針對(duì)使用同軸電纜去測(cè)試的情況，同軸直接接到示波器上去，負(fù)載通常是 50 歐姆，并且是直流耦合，而對(duì)于某些電路，需要直流偏置，直接將測(cè)試系統(tǒng)接入時(shí)會(huì)影響電路工作狀態(tài)，從而測(cè)試不到正常的波形。

眼圖測(cè)試

眼圖測(cè)試是常用的測(cè)試手段，特別是對(duì)于有規(guī)范要求的接口，比如 E1/T1、USB、10/100base-T，還有光接口等。這些標(biāo)準(zhǔn)接口信號(hào)的眼圖測(cè)試，主要是用帶 MASK(模板)的示波器，包括通用示波器，采樣示波器或者信號(hào)分析儀，這些示波器內(nèi)置的時(shí)鐘提取功能，可以顯示眼圖，對(duì)于沒(méi)有 MASK 的示波器，可以使用外接時(shí)鐘進(jìn)行觸發(fā)。使用眼圖測(cè)試功能，需要注意測(cè)試波形的數(shù)量，特別是對(duì)于判斷接口眼圖是否符合規(guī)范時(shí)，數(shù)量過(guò)少，波形的抖動(dòng)比較小，也許有一下違規(guī)的情況，比如波形進(jìn)入 MASK 的某部部分，就可能采集不到，出現(xiàn)誤判為通過(guò)，數(shù)量太多，會(huì)導(dǎo)致整個(gè)測(cè)試時(shí)間過(guò)長(zhǎng)，效率不高，通常情況下，測(cè)試波形數(shù)量不少于 2000，在 3000 左右為適宜。

利用分析軟件，可以對(duì)眼圖中的違規(guī)詳細(xì)情況進(jìn)行查看，比如在 MASK 中落入了一些采樣點(diǎn)，在以前是不知道哪些情況下落入的，因?yàn)樗械牟蓸狱c(diǎn)是累加進(jìn)去的，總的效果看起來(lái)就象是長(zhǎng)余暉顯示。而新的儀器，利用了其長(zhǎng)存儲(chǔ)的優(yōu)勢(shì)，將波形采集進(jìn)來(lái)后進(jìn)行處理顯示，因此波形的每一個(gè)細(xì)節(jié)都可以保留，因此它可以查看波形的違規(guī)情況，比如波形是 000010 還是 101010，這個(gè)功能可以幫助硬件工程師查找問(wèn)題的根源所在。