n為待測光纖的折射率。測試結(jié)果如下:橫坐標(biāo)表示待測光纖的長度,縱坐標(biāo)代表測量反射光得到的相對光功率。整個光纖網(wǎng)的故障可分為反射事件和非反射事件。
光纖中的熔接頭和微彎都會帶來損耗,但不會引起反射。在測量結(jié)果曲線上,這兩種事件會以在背向散射電平上附加一下突然的下降臺階的形式表現(xiàn)出來。那么在豎軸上的改變即為某一事件的損耗大小。

活動連接器,機(jī)械接頭和光纖中的折裂都會同時引起損耗和反射。損耗的大小同樣是由背向電平值的改變量來決定。反射值(通常以回波損耗的形式表示)是由背向散射上反射峰的幅度所決定的。