對(duì)于輻射發(fā)射，使用近場(chǎng)磁性（H場(chǎng)）探頭拾取通過(guò)探頭末端小環(huán)路傳播的發(fā)射。這些磁性探頭只能捕獲探頭附近的信號(hào)，因此被稱為“近場(chǎng)”探頭。這使得它們非常適合基本的可視化，因此工程師可以通過(guò)將探頭掃過(guò)區(qū)域快速掃描新的電路板或外殼來(lái)查找問(wèn)題。較大的探頭雖能提升掃描速度，但相應(yīng)的空間分辨率會(huì)有所降低。

在此過(guò)程中，探頭充當(dāng)天線角色，負(fù)責(zé)捕獲接縫、開(kāi)口、引腳及其他可能產(chǎn)生RF輻射的元件所釋放的信號(hào)。為確保測(cè)試的全面性，對(duì)所有電路元件、連接器、旋鈕、箱體開(kāi)口及接縫的徹底掃描是不可或缺的。通常對(duì)于此類EMI可視化測(cè)試，無(wú)需使用屏蔽室或屏蔽裝置，因?yàn)樘筋^主要記錄的是極為接近的信號(hào)。工程師可通過(guò)調(diào)整探頭的方向及位置，來(lái)識(shí)別發(fā)射源。

（天線補(bǔ)償參數(shù)）

內(nèi)置針對(duì)天線，LISN，電纜的頻響補(bǔ)償，可選擇對(duì)應(yīng)的天線，用戶也可自定義頻響補(bǔ)償。通過(guò)OWON的EMI方案可以簡(jiǎn)便快速預(yù)兼容測(cè)試，這會(huì)最大限度地減少產(chǎn)品開(kāi)發(fā)時(shí)間，降低設(shè)計(jì)成本。

ORF5060 近場(chǎng)探頭

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