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芯片突圍,測試系統(tǒng)應發(fā)揮更大作用

橫河的芯片測試系統(tǒng)


  來源: 橫河測試測量 時間:2019-09-12 編輯:伊敏
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橫河優(yōu)秀的產(chǎn)品性能,吸引了越來越多的芯片廠家和系統(tǒng)集成商選擇基于橫河光譜儀和源表來搭建芯片測試系統(tǒng)。

隨著國內(nèi)的芯片生產(chǎn)從2.5G/10G向著25G/40G等更高的速率進發(fā),站在測量儀表行業(yè)前沿、具備深厚研發(fā)能力的YOKOGAWA希望能陪伴所有客戶一路前進,助力國內(nèi)芯片行業(yè)成長和起飛。

關鍵詞:半導體 芯片 測量    瀏覽量:15840

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