什么是輻射發(fā)射（或EMI）測(cè)試？

輻射發(fā)射測(cè)試涉及測(cè)量產(chǎn)品無(wú)意產(chǎn)生的發(fā)射的電磁場(chǎng)強(qiáng)度。任何數(shù)字電路中的開(kāi)關(guān)電壓和電流都會(huì)產(chǎn)生輻射，唯一的問(wèn)題是：輻射有多大，它們是否符合輻射限制？

EMC測(cè)試實(shí)驗(yàn)室如何測(cè)量輻射？

輻射發(fā)射測(cè)試方法。

EMC測(cè)試指南：

輻射發(fā)射電磁波不會(huì)以漂亮的球形圖案延伸出您的產(chǎn)品。

排放往往是相當(dāng)方向性的，因此測(cè)試實(shí)驗(yàn)室必須改變接收天線(xiàn)的高度在1－4米之間以及旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤(pán)。

接收天線(xiàn)接收來(lái)自EUT的信號(hào)以及離地反彈。為了提高測(cè)量精度，地面覆蓋有電磁反射表面（鋁，鋼，金屬絲網(wǎng)等），并且該接地平面必須相對(duì)平坦。

測(cè)試實(shí)驗(yàn)室將掃描感興趣的頻段并尋找接近極限的發(fā)射。使用稱(chēng)為“最大化”的過(guò)程（如下所述），測(cè)試實(shí)驗(yàn)室重點(diǎn)關(guān)注這些排放中的每一個(gè)，并量化場(chǎng)強(qiáng)的幅度。

輻射發(fā)射測(cè)試場(chǎng)所的類(lèi)型：

有兩種主要類(lèi)型的測(cè)試站點(diǎn)用于測(cè)量電子產(chǎn)品的輻射發(fā)射。這些測(cè)試地點(diǎn)的目標(biāo)是準(zhǔn)確測(cè)量產(chǎn)品的排放，并確保它們符合相關(guān)限制。

全球有超過(guò)1000個(gè)FCC列出/認(rèn)可的EMC測(cè)試站點(diǎn)，每個(gè)測(cè)試站點(diǎn)至少包含一個(gè)下述測(cè)試站點(diǎn)。該數(shù)字不包括未在FCC注冊(cè)的任何EMC測(cè)試站點(diǎn)。

開(kāi)放區(qū)域試驗(yàn)場(chǎng)（OATS）

“OATS”或開(kāi)放區(qū)域測(cè)試站點(diǎn)是最常見(jiàn)的輻射發(fā)射測(cè)試站點(diǎn)。

它們通常構(gòu)造成符合ANSI C63.4（北美和其他地區(qū)）和CISPR 16-1-x（歐洲和其他地區(qū)）的要求。

天線(xiàn)與被測(cè)設(shè)備（EUT）之間的距離通常為3米，10米或30米。測(cè)量距離很重要，因?yàn)槟枰_保測(cè)量遠(yuǎn)場(chǎng)中的場(chǎng)強(qiáng)而不是近場(chǎng)。