①請(qǐng)告知樣品來(lái)源、種類(lèi)、屬性（如礦石、合金、硅酸鹽、特種固熔體、高聚物等）。

盡可能列出主要成份、雜質(zhì)成份及其（估計(jì)）含量；待檢元素中最低（估計(jì)）含量是多少？對(duì)于溶液，請(qǐng)寫(xiě)明介質(zhì)成份（溶劑、酸堿的種類(lèi)及其（估計(jì)）含量）、 含氟（ F-）與否 ？因?yàn)榉‵-）將嚴(yán)重腐蝕霧化器！

②固體樣品要制成不含任何有機(jī)物的溶液，其最終酸度控制為 1 mol ，樣品量：5-50 ml。

如含懸浮物或沉淀，務(wù)必過(guò)濾；另請(qǐng)同時(shí)送上試劑空白溶液用作扣除空白，此項(xiàng)不收費(fèi)！

③樣品要求處理成溶液以后才送至測(cè)試中心。

（2）由于條件限制，本室無(wú)法分析下列元素和某些物質(zhì)：

① 樣品加熱、加酸溶解時(shí)易揮發(fā)損失者（如B,Hg,S-2 ,Se 及用 氫氟酸 (HF) 溶樣時(shí)的Si ）；

② 陶瓷、玻璃類(lèi)及其它用無(wú)機(jī)酸不能溶解、 只可用堿融熔者；

③ 有機(jī)硅、硅橡膠、塑料制品、纖維類(lèi)或任何在 500 oC 以?xún)?nèi)灰化、及其后的酸消解中：

A.易揮發(fā)損失者；

B.無(wú)法灰化或無(wú)法溶解者（如B,Bi,Ge,Hg,Os,Ru,Sb,Se,Sn,Tl 及用氫氟酸（HF）溶樣時(shí)的Si；特種固熔體、高聚物等。）

13.原子熒光光譜儀：

（1）樣品分析一般要求

原子熒光光譜儀分析的對(duì)象是以離子態(tài)存在的砷（As）、硒（Se）、鍺（Ge）、碲（Te）等及汞（Hg）原子，樣品必須是水溶液或能溶于酸。

（2）固體樣品

① 無(wú)機(jī)固體樣品 樣品經(jīng)簡(jiǎn)單溶解后保持適當(dāng)酸度。

檢測(cè)砷（As）、硒（Se）、碲（Te）、汞（Hg），介質(zhì)為鹽酸（5%，v/v）；

檢測(cè)鍺（Ge），介質(zhì)為硫酸（5%，v/v）；

檢測(cè)汞（Hg），介質(zhì)也可為硝酸（5% ，v/v），檢測(cè)（As）介質(zhì)也可為硫酸（2%，v/v）。

由于銅、銀、金、鉑等金屬對(duì)待測(cè)元素的干擾較大，因此該幾類(lèi)合金樣品中的砷、硒、碲、汞不宜采用本儀器測(cè)定。

② 有機(jī)或生物固體樣品

樣品經(jīng)硝化處理為溶液并保持適當(dāng)酸度，其介質(zhì)酸度與無(wú)機(jī)樣品同。

（3）樣品中待測(cè)元素限量要求

由儀器靈敏度及分析方法決定，樣品含待測(cè)元素上下限為0.05μg/g~500μg/g，不在此含量范圍內(nèi)的樣品使用本儀器檢測(cè)將無(wú)法保證檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確可靠。

（4）樣品份量

每檢測(cè)1個(gè)元素，要求固體樣品量不少于2g，液體樣品量不少于20mL，水樣不少于100mL。

（5）其它

送樣前請(qǐng)查閱相關(guān)文獻(xiàn)資料，盡量提供相關(guān)信息。

14.差示掃描量熱儀：

固體樣品，在所檢測(cè)的溫度范圍內(nèi)不會(huì)分解或升華，也無(wú)揮發(fā)物產(chǎn)生。樣品量：?jiǎn)未螜z測(cè)無(wú)機(jī)或有機(jī)材料不少于20mg，藥物不少于5mg 。送樣時(shí)請(qǐng)注明檢測(cè)條件（包括檢測(cè)溫度范圍，升、降溫速率，恒溫時(shí)間等）。

15.熱重分析儀：

樣品量：不少于30mg 。送樣時(shí)請(qǐng)注明檢測(cè)溫度范圍，實(shí)驗(yàn)氣氛（空氣、N2或Ar），升溫速率，氣體流量（如有特殊要求）。

16. X-射線粉末衍射儀：

送檢樣品可為粉末狀、塊狀、薄膜及其它形狀。粉末樣品需要量約為0.2g（視其密度和衍射能力而定）；塊狀樣品要求具有一個(gè)面積小于45px x45px的近似平面；薄膜樣品要求有一定的厚度，面積小于45px x 45px ；其它樣品可咨詢(xún)嘉峪檢測(cè)網(wǎng)實(shí)驗(yàn)室。

17. X-射單晶末衍射儀：

送檢樣品必須為單晶。選擇晶體時(shí)要注意所選晶體表面光潔、顏色和透明度一致。不附著小晶體，沒(méi)有缺損重疊、解理破壞、裂縫等缺陷。晶體長(zhǎng)、寬、高的尺寸均為0.1~0.4 mm，即晶體對(duì)角線長(zhǎng)度不超過(guò) 0.5 mm （大晶體可用切割方法取樣，小晶體則要考慮其衍射能力）。

18.透射電子顯微鏡：

由于受電鏡高壓限制，透射電子束一般只能穿透厚度為幾十納米以下的薄層樣品。除微細(xì)粒狀樣品可以通過(guò)介質(zhì)分散法并直接滴樣外，其它樣品的制備方法主要有物理減薄（離子和雙噴減薄等）和超薄切片法。一般情況下，需要采用物理減薄法的樣品制備過(guò)程，須由用戶(hù)自己完成（不具備此制樣條件的院系，可租用本室的相關(guān)設(shè)備）。超薄切片樣品的制備，需經(jīng)樣品前處理、包埋、切片等復(fù)雜工序，周期較長(zhǎng)（約一周左右）。

由于該儀器是高分辨型電鏡，為確保儀器性能和發(fā)揮其高分辨象觀察特點(diǎn)，目前主要接受材料領(lǐng)域的樣品。

19.場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡：

送檢樣品必須為干燥固體、塊狀、片狀、纖維狀及粉末狀均可。應(yīng)有一定的化學(xué)、物理穩(wěn)定性，在真空中及電子束轟擊下不會(huì)揮發(fā)或變形；無(wú)磁性、放射性和腐蝕性。含水分較多的生物軟組織的樣品制備，要求用戶(hù)自己進(jìn)行臨界點(diǎn)干燥之前的固定、清洗、脫水及用醋酸（異）戊酯置換等處理，最后由本室進(jìn)行臨界點(diǎn)干燥處理。觀察圖像樣品應(yīng)預(yù)先噴金膜。一般情況下，樣品盡量小塊些(≤1010x5mm 較方便 ) 。粉末樣品每個(gè)需1克左右。納米樣品一般需超聲波分散，并噴涂超細(xì)微金膜。

20.掃描電子顯微鏡-X射線能譜儀：