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導(dǎo)讀：開關(guān)電源的質(zhì)量直接影響到產(chǎn)品的技術(shù)性能以及其安全性和可靠性。電源測試項(xiàng)目多，計(jì)算量大，統(tǒng)計(jì)繁瑣等問題一直困擾著工程師們，為了解決這些問題，今天就...

示波器是一種用途十分廣泛的電子測量儀器。它能把肉眼看不見的電信號變換成看得見的圖象，便于人們研究各種電現(xiàn)象的變化過程。利用示波器能觀察各種不同信號幅度...

測試基站和移動終端發(fā)射機(jī)和接收機(jī)首先仿真符合5G 新空口（NR）標(biāo)準(zhǔn)的信號。為了準(zhǔn)確仿真信號，測試設(shè)備必須支持信道編碼和多天線配置，并且必須允許處理各種信...

1.旋轉(zhuǎn)變壓器的由來旋轉(zhuǎn)變壓器起初應(yīng)用于“高大上”的軍用和航空航天領(lǐng)域是一種精密角度、位置、速度檢測裝置，適用于所有使用旋轉(zhuǎn)編碼器的場合，特別是高溫、嚴(yán)...

作為現(xiàn)代化的多用途電子測量儀器，數(shù)字萬用表（DMM）主要用于電氣維護(hù)、設(shè)備檢修、研發(fā)測試等應(yīng)用領(lǐng)域，對于電子電力工程師來說，肯定都再熟悉不過了。數(shù)字萬用...

相信電氣工程師最常用的儀器儀表，一定是萬用表。但在不同的測試環(huán)境下，萬用表真的不會出錯(cuò)嗎？當(dāng)被測是較為穩(wěn)定的直流信號或者低頻信號時(shí)，普通萬用表定性測量...

電子負(fù)載具有測試功能，是用來模擬其他用電設(shè)備用電環(huán)境的硬件，模擬狀態(tài)參數(shù)可任意變化，從而測試用電設(shè)備在各種普通狀態(tài)和極限狀態(tài)下的表現(xiàn)，它是由電阻、電感...

在使用PA功率分析儀器進(jìn)行測量的時(shí)候，接線是最先要做的就是最基本的操作。很多工程師很難把功率分析儀的接線方式講清楚，這里以PA功率分析儀為基礎(chǔ)給大家理解一...

頻譜分析儀是對無線電信號進(jìn)行測量的必備手段，是從事電子產(chǎn)品研發(fā)、生產(chǎn)、檢驗(yàn)的常用工具。因此，應(yīng)用十分廣泛，被稱為工程師的射頻萬用表。頻譜分析儀的價(jià)格一...

隨著技術(shù)的不斷革新，實(shí)時(shí)示波器發(fā)生了翻天覆地的變化，帶寬不再是問題、噪聲越來越低，而且最重要的是配合實(shí)時(shí)示波器的高帶寬光探頭出現(xiàn)了。于是，工程師們可以...

工程師們在確定選擇前需要用零件來測試傳感器。為應(yīng)用選擇合適的傳感器，需要不斷縮小選擇范圍，直到拿出傳感器短名單，開始訂購樣品。然后，在與傳感器安裝工況...

勝利儀器推出VICTOR85X系列是一款智能型的無需轉(zhuǎn)換檔位的數(shù)字儀表。它可以測量如交直流電壓,交直流電流、電阻，電容，蜂鳴器，二極管，溫度。替代了傳統(tǒng)用轉(zhuǎn)動旋...

5G AR/VR、5G車聯(lián)網(wǎng)、還有重量級熱點(diǎn)5G智能制造。那么5G智能制造是什么概念，5G對于智能制造有什么樣的意義？...

傳統(tǒng)電源采用三級電路（PFC+隔離DC-DC轉(zhuǎn)換+逆變），而APM的交流電源對電路進(jìn)行簡化，將隔離DC-DC轉(zhuǎn)換整合進(jìn)PFC，形成了兩級電路，因此效率得到了保證。...

在平時(shí)使用測試測量設(shè)備時(shí)，由于測試測量設(shè)備的直接電壓，電流輸入值有限，在測試中，常常會使用到傳感器，而對于傳感器的選擇，就成了面臨的首要問題，在平時(shí)，...

本文主要論述波形三維映射原理，并結(jié)合ZDS示波器講述灰度顯示和色溫顯示的意義。...

UPS蓄電池是UPS 電源設(shè)備的重要組成, 密封免維護(hù)鉛酸蓄電池在UPS 電源成本中占很大比重。同時(shí)，維修結(jié)果表明，近一半以上的UPS電源故障是由UPS蓄電池失效引起的...

從2010年SIG聯(lián)盟推出藍(lán)牙4.0起，低功耗藍(lán)牙BLE開始在物聯(lián)網(wǎng)中充當(dāng)著不容忽視的角色。BLE的低功耗性能是其它無線設(shè)備無法比擬的，其運(yùn)用在穿戴、娛樂等設(shè)備上非常...

盡管不間斷電源(UPS)和電池備份系統(tǒng)中使用的大多數(shù)電池號稱是“免維護(hù)”，但仍然容易發(fā)生腐蝕、內(nèi)部短路、硫化、干涸和密封缺陷。但是您如何確定電池是否以及何...

大公司的每日流水的芯片就有幾萬片，測試的壓力是非常大。當(dāng)芯片被晶圓廠制作出來后，就會進(jìn)入WaferTest的階段。這個(gè)階段的測試可能在晶圓廠內(nèi)進(jìn)行，也可能送往...