（7）測(cè)試報(bào)表生成

TestCenter提供了豐富的報(bào)表生成功能。用戶可使用TestCenter內(nèi)置的通用報(bào)表生成功能創(chuàng)建XML、ATML、WORD、EXCEL等格式的測(cè)試報(bào)表。TestCenter還提供了報(bào)表生成插件，支持用戶在測(cè)試程序運(yùn)行的同時(shí)實(shí)時(shí)產(chǎn)生測(cè)試報(bào)表。用戶可以自定義報(bào)表樣式，以滿足特定需求。

圖7 TestCenter 測(cè)試報(bào)表生成

（8）豐富、可擴(kuò)展的插件庫(kù)

TestCenter針對(duì)不同的測(cè)試需求提供了種類豐富、功能齊全的插件庫(kù)。插件庫(kù)被設(shè)計(jì)為可更新和擴(kuò)充，以滿足用戶持續(xù)增長(zhǎng)的測(cè)試需求。TestCenter內(nèi)置了IVI規(guī)范定義的8大類儀器控制插件，可以控制符合IVI規(guī)范的200多種儀器。TestCenter標(biāo)配的其它插件可以幫助用戶完成自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中常用的功能，同時(shí)，利用TestCenter提供的插件開(kāi)發(fā)指南、插件代碼模板、二次開(kāi)發(fā)API，用戶可自行開(kāi)發(fā)插件。

圖8 TestCenter插件庫(kù)

（9）符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)

TestCenter采用IEEE 1636.1標(biāo)準(zhǔn)描述測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，可生成符合IEEE 1636.1標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)文件。這種標(biāo)準(zhǔn)的方式允許測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)可以方便地被用于不同的目的，比如用于測(cè)試報(bào)表，或者用于統(tǒng)計(jì)分析和診斷中。采用標(biāo)準(zhǔn)化的測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)格式可以方便地進(jìn)行數(shù)據(jù)的交換、存儲(chǔ)、統(tǒng)計(jì)、分析與處理。

（10）符合IEEE 1232標(biāo)準(zhǔn)的故障診斷

TestCenter具備基于IEEE 1232標(biāo)準(zhǔn)的故障診斷建模、故障診斷程序開(kāi)發(fā)與執(zhí)行功能。其中故障診斷建模軟件通過(guò)圖形化的用戶界面提供基于IEEE 1232標(biāo)準(zhǔn)的故障診斷模型開(kāi)發(fā)功能，TestCenter提供的診斷序列開(kāi)發(fā)與執(zhí)行功能可加載符合IEEE 1232標(biāo)準(zhǔn)的故障診斷模型并通過(guò)診斷推理機(jī)根據(jù)模型對(duì)被測(cè)件進(jìn)行診斷。