請注意，這些計算出來的值與低頻下 (<500Hz) 測得的THD+N密切對應。在這里，測量值幾乎完全由運算放大器的噪聲決定。由于輸入信號的頻率不影響噪聲電壓，噪聲優(yōu)勢頻率上的THD+N測量值在是扁平的。

相似的，在低信號幅值上，THD+N測量值主要受噪聲影響。圖2顯示1kHz時，在OPA316上測得的THD+N與輸出幅值之間的關(guān)系。在300mV以下時，兩個輸出曲線具有一個恒定斜率。RMS噪聲是恒定的，而與輸入信號幅值無關(guān)，所以信號幅值的增加會改進THD+N的測量值。例如，在曲線的噪聲主導區(qū)域，把輸出幅值加倍將使THD+N的值減半。

圖2：多個配置中，OPA316運行在1kHz時，THD+N與輸出幅值之間的關(guān)系

另一方面，失真諧波的幅值會隨著信號幅值的變化而變化。一旦曲線偏離恒定向下斜坡，我們就會知道失真諧波正在影響THD+N測量值。

針對低噪聲的電路設(shè)計具有噪聲不斷增加帶來的有害后果。具有低值反饋電阻器的非反向運算放大器可以提供特別低的噪聲，但是額外的負載和共模電壓會增加高頻失真。了解噪聲或失真是否會限制你的系統(tǒng)性能對于找到一個工程設(shè)計解決方案十分關(guān)鍵。掌握某些基本手算結(jié)果，并且能夠看懂數(shù)據(jù)表THD+N圖，你就可以迅速確定誰是罪魁禍首了。