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普源精電(RIGOL)多通道材料應(yīng)力測(cè)量系統(tǒng)

引言


材料是人類賴以生存和發(fā)展的物質(zhì)基礎(chǔ)。20世紀(jì)70年代,人們把信息、材料和能源作為社會(huì)文明的支柱。而到現(xiàn)代社會(huì),材料已成為國(guó)民經(jīng)濟(jì)建設(shè)、國(guó)防建設(shè)和人民生活的重要組成部分。


材料科學(xué)的發(fā)展在很大程度上依賴于檢測(cè)技術(shù)的提高。每一種新儀器和測(cè)試手段的發(fā)明創(chuàng)造,都對(duì)當(dāng)時(shí)新材料的出現(xiàn)和發(fā)展起到了促進(jìn)作用。檢測(cè)技術(shù)同時(shí)又是控制材料工藝流程和產(chǎn)品質(zhì)量的主要手段,使用傳感器,利用物理、化學(xué)或生物原理探究材料在各種外力作用下產(chǎn)生的應(yīng)變、應(yīng)力、強(qiáng)度、剛度、穩(wěn)定性等,從而達(dá)到控制產(chǎn)品質(zhì)量的目的。在接下來(lái)的文章中我們就陸續(xù)為大家介紹普源精電科技股份有限公司(RIGOL)產(chǎn)品在材料應(yīng)力檢測(cè)過(guò)程中的應(yīng)用案例。


圖一經(jīng)典應(yīng)力裂紋


應(yīng)力測(cè)試


材料力學(xué)是研究材料力學(xué)性能及其變形規(guī)律的學(xué)科,而應(yīng)變應(yīng)力則是材料力學(xué)中的重要概念。應(yīng)變是材料在受到外力作用下產(chǎn)生的形變量,而應(yīng)力則是材料單位面積上的內(nèi)力。應(yīng)變應(yīng)力的研究對(duì)于材料的設(shè)計(jì)、制造和應(yīng)用具有重要意義。


此外,應(yīng)力測(cè)試在建筑學(xué)中也是一個(gè)必不可少的過(guò)程。在這里應(yīng)力測(cè)試一般是指在建構(gòu)筑物施工過(guò)程中,如鋼結(jié)構(gòu)安裝、卸載、改造、加固,混凝土澆筑等過(guò)程,采用監(jiān)測(cè)儀器對(duì)受力結(jié)構(gòu)的應(yīng)力變化進(jìn)行監(jiān)測(cè)的技術(shù)手段,在監(jiān)測(cè)值接近控制值時(shí)發(fā)出報(bào)警,用來(lái)保證施工的安全性,也可用于檢查施工過(guò)程是否合理。


應(yīng)力測(cè)試的方法有以下幾類:


電阻應(yīng)變測(cè)量法:利用電阻應(yīng)變計(jì)測(cè)量應(yīng)力;

光彈性方法:利用光的彈性效應(yīng)測(cè)量應(yīng)力;

X射線衍射法:利用X光的衍射現(xiàn)象來(lái)測(cè)量應(yīng)力;

超聲法:利用超聲波在材料中的傳播特性來(lái)推斷應(yīng)力狀態(tài)。

其中電阻應(yīng)變測(cè)量法由于實(shí)施簡(jiǎn)單,成本低廉,距離遠(yuǎn)等優(yōu)點(diǎn),是最廣泛的應(yīng)力測(cè)量方法。


圖二金屬電阻應(yīng)變片的結(jié)構(gòu)


電阻應(yīng)變片的基本構(gòu)造如圖二,它一般由敏感柵、基片、引線、蓋片等組成。敏感柵由高電阻系數(shù)的細(xì)絲彎曲而成柵狀,將其用粘合劑固定在基底上,而基片的作用是保證將構(gòu)件上應(yīng)變準(zhǔn)確地傳遞到敏感柵上去。


在測(cè)試時(shí),將應(yīng)變片固定在被測(cè)試件的表面上,隨著試件受力變形,應(yīng)變片的敏感柵也獲得同樣的變形,從而使其電阻隨之發(fā)生變化,如圖三為應(yīng)變片在金屬伸縮時(shí)電阻值變化原理。通過(guò)一定測(cè)量線路將這種電阻變化通過(guò)儀表記錄下來(lái),就能知道被測(cè)試件應(yīng)變量的大小。


圖三應(yīng)變片在金屬伸縮時(shí)電阻值變化原理


測(cè)試挑戰(zhàn)


在電阻測(cè)量應(yīng)變的場(chǎng)景中,直接用萬(wàn)用表配合應(yīng)變片進(jìn)行測(cè)量無(wú)疑是最簡(jiǎn)單的,萬(wàn)用表本身兼具電壓、電流、電阻等常規(guī)物理量的測(cè)量,且本身還能自定義傳感器,進(jìn)一步方便測(cè)試。如圖5所示,可以直接用萬(wàn)用表測(cè)試應(yīng)變片電阻。


圖五萬(wàn)用表測(cè)電阻示意圖


應(yīng)力應(yīng)變的測(cè)量往往是需要多個(gè)測(cè)試點(diǎn)同時(shí)測(cè)量,特別是建筑過(guò)程中更是需要成百上千個(gè)測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行分布式測(cè)量。而由于一臺(tái)萬(wàn)用表只能進(jìn)行一項(xiàng)測(cè)試,如果應(yīng)變片的數(shù)量較多,那就得為每一個(gè)應(yīng)變片配置一臺(tái)測(cè)量萬(wàn)用表,如圖6所示。


并且在實(shí)際測(cè)量場(chǎng)景中,如果想要進(jìn)行數(shù)據(jù)匯總,萬(wàn)用表雖然本身支持程控?cái)?shù)據(jù)遠(yuǎn)程讀取,但復(fù)數(shù)臺(tái)的萬(wàn)用表一臺(tái)臺(tái)讀取無(wú)疑也會(huì)給數(shù)據(jù)匯總帶來(lái)困難。


圖六萬(wàn)用表測(cè)應(yīng)變方法


因此萬(wàn)用表直接測(cè)量應(yīng)變方法的缺點(diǎn)如下:


多點(diǎn)位測(cè)量時(shí)儀器成本高


測(cè)試數(shù)據(jù)匯總困難,效率低


解決方案


為了解決上述問(wèn)題,RIGOL推出了以矩陣開關(guān)系統(tǒng)M300為核心的解決方案。該方案單套系統(tǒng)最多可以集成160個(gè)應(yīng)變電阻測(cè)量通道,系統(tǒng)組成如下圖:


圖七RIGOL-160路應(yīng)力測(cè)試方案結(jié)構(gòu)圖


該系統(tǒng)的主要構(gòu)成如下:


DM3068萬(wàn)用表為測(cè)量單元:該設(shè)備在1MΩ及以下的電阻測(cè)量上的精度達(dá)到0.012%,有效確保測(cè)試數(shù)據(jù)的精確性和可靠性;


M300+測(cè)量板卡:M300是RIGOL推出的數(shù)據(jù)采集和矩陣開關(guān)系統(tǒng),該設(shè)備單機(jī)可以配置5塊64通道單端或者32通道差分的通道切換卡,此方案中為了提高精度,采用差分通道測(cè)量,單機(jī)最多擴(kuò)展160通道;


模擬總線連接器:用于連接M300和DM3068,將M300連接的DUT直接轉(zhuǎn)接于DM3068的輸入端;


接線盒:用于將DUT的測(cè)試線連接至M300開關(guān)卡


圖八接線盒和模擬總線連接器


該方案的優(yōu)點(diǎn)如下:


系統(tǒng)構(gòu)成簡(jiǎn)單方便易用


M300測(cè)量系統(tǒng)采用了多種方便多通道測(cè)量場(chǎng)景的軟硬件設(shè)計(jì):接線盒的設(shè)計(jì)使得工程師在連接DUT的時(shí)候,可以避免拆卸機(jī)器,直接在小小的接線盒中操作,更換線路更加便捷;測(cè)試設(shè)置中,可以自定義公式,可以直接將測(cè)量的應(yīng)力結(jié)果,根據(jù)應(yīng)變計(jì)算公式換算為應(yīng)變值,每個(gè)通道設(shè)置好后,可以直接復(fù)制到其他通道或者整個(gè)板卡


圖九M300通道復(fù)制和公式編輯功能


單路成本極低


系統(tǒng)最小配置為20通道測(cè)量,20通道增加到160通道的每通道擴(kuò)展成本低于RMB200元,相對(duì)于動(dòng)輒幾十萬(wàn)的測(cè)量設(shè)備而言,幾乎可以忽略不計(jì)。


圖十32通道卡示意圖


數(shù)據(jù)分析管理方便


系統(tǒng)的所有測(cè)試數(shù)據(jù)均取自于每套系統(tǒng)的單臺(tái)DM3068或者M(jìn)C3065萬(wàn)用表(卡)上,系統(tǒng)標(biāo)配的軟件即可完美的將數(shù)據(jù)導(dǎo)出并分類分析;對(duì)系統(tǒng)做軟件二次開發(fā),也只需要最多控制倆臺(tái)設(shè)備,避免因?yàn)槎嘣O(shè)備控制造成的混亂。


圖十一某20通道應(yīng)力測(cè)試結(jié)果


小結(jié)


普源精電(RIGOL) M300應(yīng)力測(cè)量系統(tǒng)不僅適用于測(cè)試材料應(yīng)力等參數(shù),配置不同傳感器和測(cè)量單元后,該系統(tǒng)可以適用于眾多需要分布式測(cè)量或者批量測(cè)量的應(yīng)用場(chǎng)景,如:


搭配熱電偶用于監(jiān)控材料或者電路板元器件溫度


傳感器生產(chǎn)過(guò)程中,直接用于傳感器曲線測(cè)定


LED檢測(cè)中心,用于批量LED電量壽命檢測(cè)等

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