通過示波器的電源測試軟件中的開關(guān)損耗測試功能，可得到以下開關(guān)管的功率損耗測試結(jié)果，如圖6。通過結(jié)果我們可以判斷開關(guān)管的具體通斷波形以及電壓、電流值，并得到整個開關(guān)過程中開啟、關(guān)閉過程以及導(dǎo)通部分的損耗，從而可以判斷出有問題的部分，進行排查改善。
圖6 開關(guān)管波形實際測試圖
致遠電子ZDS5000示波器內(nèi)部集成了電源測試軟件，可以直接對開關(guān)管的MOSFET進行全過程各個部分的功率損耗測試。對于某些開關(guān)元器件，開關(guān)周期損耗不盡相同，且開關(guān)管開通和關(guān)斷時間很短，如Boost-PFC，因此不能用通過測量一個開關(guān)周期（如80KHz）評估整體損耗。ZDS5000系列示波器有512M的存儲深度，可以對PFC等高速功率管進行高采樣率的半波分析，因此能夠測量的更準確，如圖7所示。
圖7 PFC半周波測試
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