如何才能測(cè)量高速移動(dòng)或溫度驟變物體的熱量?傳統(tǒng)的測(cè)溫工具,比如熱電偶或點(diǎn)溫儀,無(wú)法提供能完全顯示高速熱應(yīng)用特征所需的分辨率或速度。這些工具在用于對(duì)移動(dòng)中物體進(jìn)行測(cè)溫時(shí)并不實(shí)用,至少來(lái)說(shuō),并不能完整提供物體的熱屬性信息。
相比之下,紅外熱像儀可以測(cè)量整個(gè)場(chǎng)景中的溫度,捕捉每一像素的熱數(shù)據(jù)。紅外熱像儀能夠?qū)崿F(xiàn)快速、準(zhǔn)確、非接觸式的溫度測(cè)量。通過(guò)為相關(guān)應(yīng)用選擇正確的熱像儀類型,你便能夠收集到可靠的高速測(cè)溫?cái)?shù)據(jù),生成定格的熱圖像,并給出具有說(shuō)服力的研究數(shù)據(jù)。
點(diǎn)測(cè)溫與區(qū)域測(cè)溫
測(cè)量一個(gè)區(qū)域內(nèi)的溫度,而非逐個(gè)點(diǎn)、逐個(gè)點(diǎn)的進(jìn)行測(cè)溫,可以幫助研究人員和工程師對(duì)其正在測(cè)試的系統(tǒng)做出更好的知情決策。
由于熱電偶和熱敏電阻都需要通過(guò)接觸才能進(jìn)行測(cè)溫,因此它們只能一次提供一個(gè)位置的溫度數(shù)據(jù)。而且,小的測(cè)試目標(biāo)一次只能安裝少數(shù)熱電偶。貼在其上,實(shí)際上熱電偶會(huì)散熱,而可能改變溫度讀數(shù)。

傳統(tǒng)熱電偶的熱圖像
非接觸式的測(cè)溫可能采用點(diǎn)溫儀(也稱為紅外測(cè)溫儀),但如同熱電偶一樣,點(diǎn)溫儀只能測(cè)量單點(diǎn)的溫度。
紅外熱像儀能對(duì)絕對(duì)零度以上物體發(fā)出的熱輻射生成熱圖像。通過(guò)提供每一個(gè)像素的溫度測(cè)量值,研究人員可以以非接觸的方式對(duì)某一場(chǎng)景進(jìn)行觀察和測(cè)溫。由于紅外熱像儀提供的數(shù)據(jù)比熱電偶或點(diǎn)溫儀要多,而且可以追蹤隨時(shí)間推移所發(fā)生的溫度變化,所以它們非常適合用于研究和工程設(shè)計(jì)項(xiàng)目。
制冷型與非制冷型紅外探測(cè)器
紅外探測(cè)器大體可分為兩類:一類是熱探測(cè)器,另一類是量子探測(cè)器。
熱探測(cè)器,比如微測(cè)輻射熱計(jì),會(huì)對(duì)射入的輻射能產(chǎn)生反應(yīng),加熱像素,通過(guò)電阻的變化來(lái)反映出溫度的變化。此類紅外熱像儀不需要制冷,且成本比量子探測(cè)器紅外熱像儀低。
制冷型量子探測(cè)器采用銻化銦(InSb)、銦鎵砷(InGaAs)或應(yīng)變超晶格制成。這類探測(cè)器為光電探測(cè)器,即光子撞擊像素點(diǎn),轉(zhuǎn)化為可存儲(chǔ)于積分電容器的電子。像素采用的電子快門(mén),通過(guò)斷開(kāi)或短路積分電容器來(lái)控制快門(mén)。
量子探測(cè)器在本質(zhì)上比微測(cè)輻射熱計(jì)的速度要快,主要原因是微測(cè)輻射熱計(jì)必須要改變溫度。
與改變像素溫度相反的是,量子探測(cè)器是將能量加到半導(dǎo)體中的電子里,提至高于進(jìn)入導(dǎo)電帶的探測(cè)器能量帶隙,根據(jù)探測(cè)器的不同設(shè)計(jì),可以測(cè)量為探測(cè)器電壓或電流的變化。這一變化可能發(fā)生得非常快。
銻化銦(InSb)探測(cè)器熱像儀,比如FLIR X6900sc,在測(cè)量-20 ?C至350 ?C之間的物體溫度時(shí),其典型的積分時(shí)間可能低至0.48μs。如此短的“快照速度”可以定格畫(huà)面,準(zhǔn)確測(cè)量非??斓乃矔r(shí)變化。
