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SPA6100半導(dǎo)體參數(shù)分析儀新品蓄勢(shì)待發(fā)！...

是德科技公司（NYSE：KEYS）日前宣布，發(fā)布具有增強(qiáng)功能的下一代雙脈沖測(cè)試儀（DPT）——功率動(dòng)態(tài)參數(shù)分析儀PD1550A，使客戶能夠...

C-V測(cè)量各種各樣的應(yīng)用通常要在許多類型的器件上執(zhí)行電容-電壓(C-V) 和AC阻抗測(cè)量。例如，C-V 測(cè)量用來(lái)確定以下器件參數(shù)：- MOSCAPs的柵極氧化物電容- MOSFET輸...

半導(dǎo)體材料研究和器件測(cè)試通常要測(cè)量樣本的電阻率和霍爾電壓。半導(dǎo)體材料的電阻率主要取決于體摻雜，在器件中，電阻率會(huì)影響電容、串聯(lián)電阻和閾值電壓?；魻栯妷?..

近日，泰克科技公司日前宣布，為Keithley 4200A-SCS參數(shù)分析儀推出兩款最新源測(cè)量單元(SMU)模塊，即使在由于長(zhǎng)電纜和復(fù)雜的測(cè)試設(shè)置而產(chǎn)生高負(fù)載電容時(shí)，其仍能...

近日，泰克科技公司推出可以量身定制的全面集成的Keithley 4200A-SCS參數(shù)分析儀，通過(guò)降低新用戶或偶爾使用的用戶面臨的特性分析復(fù)雜度，簡(jiǎn)化測(cè)試設(shè)置，提供清楚...