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C-V測量各種各樣的應用通常要在許多類型的器件上執(zhí)行電容-電壓(C-V) 和AC阻抗測量。例如，C-V 測量用來確定以下器件參數(shù)：- MOSCAPs的柵極氧化物電容- MOSFET輸...

半導體材料研究和器件測試通常要測量樣本的電阻率和霍爾電壓。半導體材料的電阻率主要取決于體摻雜，在器件中，電阻率會影響電容、串聯(lián)電阻和閾值電壓?；魻栯妷?..

近日，泰克科技公司日前宣布，為Keithley 4200A-SCS參數(shù)分析儀推出兩款最新源測量單元(SMU)模塊，即使在由于長電纜和復雜的測試設置而產(chǎn)生高負載電容時，其仍能...

近日，泰克科技公司推出可以量身定制的全面集成的Keithley 4200A-SCS參數(shù)分析儀，通過降低新用戶或偶爾使用的用戶面臨的特性分析復雜度，簡化測試設置，提供清楚...