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如何進行功率半導體(IGBT/SiC)功率循環(huán)測試

什么是功率半導體?


功率半導體可用于改變電壓和頻率,也可將交流轉(zhuǎn)換至直流,或?qū)⒅绷鬓D(zhuǎn)換至交流的電力轉(zhuǎn)換。



使用功率半導體可以驅(qū)動發(fā)動機、為電池供電、或是運作微電腦與LSI等。是一種可以控制與供應電力的半導體。



但是,當使用功率半導體時容易發(fā)熱產(chǎn)生高溫,從而發(fā)生故障。為了減少這一現(xiàn)象,在這篇推文中,我們會為各位介紹一下功率半導體的功率循環(huán)測試提案。


什么是功率循環(huán)測試?


對功率半導體不斷施加通電與斷電的負荷,使芯片的接觸溫度不斷上升與下降,直至功率半導體產(chǎn)生熱應力而最終出現(xiàn)損壞。主要以評價鋁線連接處與硅芯片下的焊點的壽命為目的。




功率半導體用戶對于測試的要求


對于功率循環(huán)測試,需要用戶持續(xù)間歇性的給功率半導體施加電流。功率半導體的焊錫層會由于大電流而變得更容易導熱。當因為電流而導致溫度上升時,需立刻切斷電流。此測試需要用戶在監(jiān)視溫度的同時對電流也進行控制。并且在高速改變電流時,要保證電源不發(fā)生過大的沖擊電流。


根據(jù)以上測試要求,您可以使用菊水的PWX系列來應對。



為什么PWX系列適用于功率半導體用戶?


可以使用LAN來進行控制


剛剛有說到功率循環(huán)測試需要用戶在監(jiān)視溫度的同時對電流也進行控制,并且在溫度達到一定高度后立刻關(guān)閉電源,以免高溫使焊錫層融化從而導致功率半導體損壞。在不刻意損壞功率半導體的情況下,還需觀察功率半導體在被間歇性的施加了一定的溫度下所發(fā)生的劣化。


而菊水的PWX系列標準配備了LAN模塊,可以高速的進行OUTPUT ON/OFF的控制,從而可以防止溫度過度上升。



具有CC優(yōu)先啟動功能


可以將CC(定電流)模式設(shè)為優(yōu)先輸出模式,以防發(fā)生過大的沖擊電流。如出現(xiàn)過大的沖擊電流,則會發(fā)生過電流現(xiàn)象從而導致功率半導體受到不必要的負載,從而無法準確完成測試。



任意修改測試范圍


根據(jù)半導體的不同,可以施加的最高電壓與最大電流也會不同。菊水的薄型寬量程可變開關(guān)型電源PWX系列的額定輸出可以任意修改,所以只要在下圖的范圍內(nèi),無需準備多臺電源,使用一臺就可完成測試。



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