提問(wèn)：為什么測(cè)試絕緣電阻的讀數(shù)一直在變化？有哪些因素影響？
優(yōu)利德：
（1）電容電流：實(shí)驗(yàn)的加壓瞬間，電容充電電流即對(duì)被測(cè)絕緣材料的電容量充電，這個(gè)瞬間電流開(kāi)始時(shí)相對(duì)較大，但如被測(cè)材料充電完畢后，會(huì)以指數(shù)曲線速度快速衰減接近零。一般在幾秒或十幾秒后，絕緣阻值讀數(shù)需要去掉電容的充電電流，但這個(gè)充電流會(huì)儀表讀數(shù)跳動(dòng)。
（2）吸收電流：由于分子極化和電子漂移而形成的電流。它隨施加電壓的時(shí)間從開(kāi)始相對(duì)較高的原始值最終衰減至接近于零。
（3）泄漏電流：絕緣體是不導(dǎo)電的，但實(shí)際上幾乎沒(méi)有什么一種絕緣材料是絕對(duì)不導(dǎo)電的。任何一種絕緣材料，在其兩端施加電壓，總會(huì)有一定電流通過(guò)，這種電流的有功分量叫做泄漏電流，而這種現(xiàn)象也叫做絕緣體的泄漏。
(4）很多材料并不是純電阻，在給材料施加高電壓時(shí)，材料內(nèi)部也會(huì)表現(xiàn)出不穩(wěn)定的狀態(tài)，也會(huì)使其絕緣電阻值有變動(dòng)。
