早期的通信設備通常采用的是多個分立元器件，包括濾波器、功放、雙工器等。隨著5G時代的到來，為實現(xiàn)高速率、低延遲、廣泛連接的要求，采用了MIMO、多天線等技術，從而要求元器件的尺寸越來越小、集成度越來越高，例如射頻前端模塊，就是將天線開關、放大器、雙工器、濾波器等集成在一起，元器件開始朝著多端口、高度集成化、更加復雜的方向發(fā)展，技術的復雜性呈指數(shù)級增長，因此也給相應的測試帶來了諸多挑戰(zhàn)。

1. 測試的參數(shù)越來越多。

傳統(tǒng)元器件測試通常只需測S參數(shù)等。5G時代元器件測試，除了S參數(shù)之外，更是增加了諸如EVM、ACP等調制失真性能的分析要求，測量參數(shù)急劇增加。

2. 測試效率要求更高。  

多端口元器件的測試量很大，要求測試效率必須很高，否則就需要非常長的時間才能完成整個測試。

3. 測試精度、穩(wěn)定性要求更好。

相較于傳統(tǒng)元器件，5G時代的多端口器件對于測試系統(tǒng)提出了更高的要求。專門為多端口測試而優(yōu)化設計的測試設備，可以保證測試結果的高精度、高穩(wěn)定性。

傳統(tǒng)的多端口元器件測試，通常采用

1)2端口或者4端口網(wǎng)絡分析儀進行多次測量
【優(yōu)點】

方法簡單、儀表成本低。

【缺點】

測試時間超長、過程復雜。

2)基于網(wǎng)絡分析儀和開關矩陣的多端口測試系統(tǒng)

【優(yōu)點】

一次連接所有端口，無需改變連接。對于動態(tài)范圍和精度要求不高的測試場景，具有較低的成本。

【缺點】

系統(tǒng)動態(tài)范圍下降，測試精度和穩(wěn)定性不高，測試時間長、過程復雜，校準困難。

當上述解決方案不足以跟上5G時代多端口測試的步伐時，Keysight針對多端口測試的需求，對VNA進行了重新構建和優(yōu)化，提供了現(xiàn)代多端口設備測試所需的靈活性和測量完整性，具有更高的測量性能和準確性，提高了測量效率和吞吐量，最大限度地降低了測試成本。

基于PXI架構的模塊是一個完整的VNA，通過級聯(lián)和同步可以創(chuàng)建一個完整的多端口測試系統(tǒng)，也可以將模塊配置為具有多個獨立VNA的多站點測試系統(tǒng)。配置的靈活性意味著可以輕松更改設置以滿足不同的測量需求，提高測試吞吐量。

除了易于配置之外，多端口VNA與基于開關的測試系統(tǒng)相比還具有顯著的測量速度和性能優(yōu)勢?；陂_關測試裝置的VNA需要執(zhí)行多次單獨的掃描，以將測試信號連接到每個 DUT端口。隨著待測件端口數(shù)量的增加，傳統(tǒng)的2端口或4端口VNA所需的掃描次數(shù)、時間急劇增加，而多端口VNA的優(yōu)勢就突顯出來了。

多端口VNA可以快速進行掃描。基于開關的測試系統(tǒng)的開關衰減會降低動態(tài)范圍，尤其是在較高頻率的時候。多端口VNA始終如一的寬動態(tài)范圍意味著可以使用更寬的中頻帶寬更快地進行掃描，大大提高測試速度。

多端口VNA縮短了校準所需時間。采用固態(tài)開關的測試系統(tǒng)很容易受到溫度的影響，必須經(jīng)常進行校準以確保測量精度。校準導致的停機時間會嚴重影響吞吐量；而多端口VNA具有較長校準間隔，可減少校準時間，提高測試速度，降低測試成本。

靈活的模塊化配置、更快的測試速度和更高的性能，使得Keysight PXI VNA成為多端口測試的首選，從容應對5G時代元器件測試的挑戰(zhàn)。