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向微間距邁進(jìn),高速芯片測試領(lǐng)先者再秀肌肉

當(dāng)前,物聯(lián)網(wǎng)、5G、AI、深度學(xué)習(xí)、自動(dòng)駕駛等新興領(lǐng)域正在飛速發(fā)展,海量數(shù)據(jù)的產(chǎn)生帶來的是人們對更快網(wǎng)絡(luò)傳輸速率,以及更高芯片性能的渴望。為了滿足用戶對于芯片性能提出的高要求,各種封裝技術(shù)不斷更新迭代。


面對越來越復(fù)雜的芯片封裝類型,為了保證芯片功能的穩(wěn)定可靠,測試環(huán)節(jié)成為芯片驗(yàn)證出廠的關(guān)鍵一步,而測試插座作為半導(dǎo)體芯片封裝后測試過程的關(guān)鍵零件,尤其在這個(gè)芯片尺寸不斷縮小、信號(hào)傳輸速度不斷提高的當(dāng)下,愈發(fā)受到各大廠商的重視。


現(xiàn)如今,越來越多的半導(dǎo)體測試插座廠商已經(jīng)開始發(fā)力,推動(dòng)產(chǎn)品向著更穩(wěn)定、更可靠方向邁進(jìn)。近日,高速測試插座領(lǐng)導(dǎo)者史密斯英特康推出DaVinci微型測試插座,為高速測試插座產(chǎn)品線再添主力軍。


隱秘而關(guān)鍵的IC Socket


IC Socket也稱為芯片測試插座,是集成電路和PCB之間的靜態(tài)連接器,其主要作用就是滿足芯片引腳端子與PCB測試主板的聯(lián)接需求,最大優(yōu)勢則是在芯片測試環(huán)節(jié)可以隨時(shí)拆換芯片,不會(huì)損壞芯片和PCB,從而實(shí)現(xiàn)快速高效的測試。



一般來說,IC Socket是由三個(gè)關(guān)鍵部件組成:一是插座本體,一種由金屬或是塑料制成的組件,含有精密的切割腔體;二是插入測試座孔徑的彈簧探針或是彈片,提供具有機(jī)械性的電路徑,將芯片連接到測試系統(tǒng);三是保持托板,用來固定探針或是彈片的部件,精準(zhǔn)定位,確保芯片和探針能精密接觸。除了上述三大部件,有些IC Socket根據(jù)應(yīng)用的不同,還會(huì)裝備機(jī)械壓合蓋,用來壓合芯片,提供匹配的壓力供彈簧探針和芯片引腳端子及PCB Pad接觸等…


在芯片制造過程中,IC Socket主要有以下三大功能:


一是來料檢測。由于芯片的尺寸很小,其質(zhì)量問題往往很難通過肉眼去判斷,所以廠商一般通過增加功率來進(jìn)行芯片質(zhì)量檢測,通過IC Socket的應(yīng)用功能判斷芯片質(zhì)量,找出不良產(chǎn)品;


二是維修測試。將芯片放入IC socket中,通過測試根據(jù)芯片性能表現(xiàn),找出芯片生產(chǎn)過程中的問題所在;


三是芯片檢查。修復(fù)后的芯片在拆卸過程中可能會(huì)損壞。用IC Socket可以檢測出不良芯片,節(jié)省大量的人力、物力,從而降低各種成本。以BGA封裝的芯片為例,如果沒有芯片檢查,在經(jīng)過FCT測試后,粘貼到不良的芯片,如果此時(shí)再將芯片拆下來進(jìn)行烘烤清洗,可能會(huì)損壞相關(guān)設(shè)備,使用IC Socket則可以大大降低出現(xiàn)上述問題的概率。


介于上述三大功能,IC Socket也成為了封測廠家必備的專用測試工具。雖然根據(jù)不同的芯片測試要求,IC Socket種類很多,但由于其本身的特性,無論哪種類型的IC Socket都必須非常穩(wěn)健,不易受溫度和濕度變化的影響,只有這樣,才能實(shí)現(xiàn)與受測設(shè)備的精確和可重復(fù)連接。另外,IC Socket的探針引腳還必須具有低接觸電阻及大載流能力,信號(hào)路徑也盡可能屏蔽,才能最大限度降低電磁干擾的影響。


隨著芯片更新迭代的速度變得越來越快,市場對芯片高速測試的需求也水漲船高,在此背景下,史密斯英特康推出了高速測試插座產(chǎn)品線系列,可以廣泛應(yīng)用于測試可穿戴設(shè)備芯片、AI 推理芯片、5G芯片、車聯(lián)網(wǎng)芯片、數(shù)據(jù)中心芯片等領(lǐng)域。


史密斯英特康是一家全球領(lǐng)先的高可靠性測試插座生產(chǎn)商,其測試解決方案具有可靠的彈簧探針技術(shù)、優(yōu)化的設(shè)計(jì)和絕佳的機(jī)械性能,在各種嚴(yán)苛的半導(dǎo)體測試應(yīng)用中表現(xiàn)出卓越的質(zhì)量和可靠性。


早在2020年,史密斯英特康就率先一步推出了專為0.70mm間距芯片而設(shè)計(jì)的DaVinci56高速測試插座系列,支持高達(dá)67GHz RF(模擬)和56Gb / s PAM4, NRZ(數(shù)字)的可靠測試,具有完全屏蔽的信號(hào)路徑和低于80mΩ的低接觸電阻。DaVinci56系列產(chǎn)品的推出,解決了當(dāng)時(shí)市場上性能高但引腳間距更小的高性能芯片測試所面臨的挑戰(zhàn)。


兩年后,面對新一輪的IC封裝高速測試需求,史密斯英特康再一次推出了DaVinci 微型測試插座,專為0.35mm 間距及以上的高速測試而研發(fā)設(shè)計(jì),彌補(bǔ)了其高速測試產(chǎn)品線在針對微型間距芯片測試方面的空白。


DaVinci 微型測試插座


高速IC測試挑戰(zhàn)下的突破升級(jí)


隨著摩爾定律不斷推進(jìn),當(dāng)前芯片制程工藝已經(jīng)來到了3nm節(jié)點(diǎn),在芯片朝著尺寸小型化邁進(jìn)的同時(shí),人們對芯片的要求也越來越多,功能集成化推動(dòng)著芯片IC球/引腳間距不斷縮小,而市場上主流同軸結(jié)構(gòu)插座卻主要針對球/引腳間距≥0.65mm芯片測試應(yīng)用,不能滿足當(dāng)下這一市場技術(shù)趨勢。


DaVinci 微型測試插座就是在此背景下應(yīng)運(yùn)而生。據(jù)了解,史密斯英特康克服了探針間距、及探針腔體的空間限制,實(shí)現(xiàn)信號(hào)傳輸線的同軸結(jié)構(gòu),以及由此引起的一系列諸如超細(xì)信號(hào)針的設(shè)計(jì)及制造、探針腔體件的加工等技術(shù)挑戰(zhàn),針對性推出了這款可以有效滿足≥0.35mm微球/引腳間距高速芯片測試應(yīng)用需求的IC Socket。


由于采用了專利性技術(shù)結(jié)構(gòu),兼顧信號(hào)完整性及零部件的結(jié)構(gòu)、可加工性等多個(gè)方面,所以DaVinci 微型測試插座的特點(diǎn)也十分明顯,具體來說:


探針


通常,IC Socket的探針主要提供芯片與測試板的穩(wěn)定可靠聯(lián)接。探針質(zhì)量主要體現(xiàn)在結(jié)構(gòu)、材質(zhì)、鍍層、彈簧、套管的直徑精度及裝配制造工藝等方面。


DaVinci 微型測試插座信號(hào)探針采用雙動(dòng)頭設(shè)計(jì),頂部肩環(huán)提供預(yù)緊力,確保探針在腔體的穩(wěn)定狀態(tài)及測試過程中的平穩(wěn)表現(xiàn)。另外信號(hào)探針安裝有低介電常數(shù)材質(zhì)環(huán),在提高裝配性的基礎(chǔ)上,亦能確保信號(hào)探針在腔內(nèi)精確對位,保證信號(hào)傳輸路徑的阻抗特性。


彈簧探針


據(jù)介紹,DaVinci 微型測試插座中采用兩種類型的彈簧探針,一種探針用于信號(hào),另一種探針用于電源和接地。其中,傳輸信號(hào)應(yīng)用外徑較細(xì)、表面套裝塑料環(huán)的信號(hào)針,實(shí)現(xiàn)同軸信號(hào)傳輸線結(jié)構(gòu);而接地及電源使用同一種探針,但應(yīng)用不同的腔體表面及尺寸來實(shí)現(xiàn)與金屬腔體零件接地及絕緣的芯片測試供電需要。


為了提高探針的使用壽命,DaVinci 微型測試插座可選配芯片浮動(dòng)定位板設(shè)計(jì),提供芯片測試下壓過程的預(yù)定位,減少對探針的可能的沖擊影響。同時(shí),史密斯英特康工程團(tuán)隊(duì)還應(yīng)用特殊的針高設(shè)計(jì),以保護(hù)小直徑信號(hào)探針,提高測試的可靠性及穩(wěn)定性。


此外,DaVinci 微型測試插座的金屬探針腔體結(jié)構(gòu),也由特殊工藝表面處理的金屬機(jī)加工而成,特殊的材料性能助力DaVinci 微型測試插座相較于傳統(tǒng)的塑料材質(zhì)探針腔體有更好的抗彎性能及導(dǎo)熱性能:一方面在高引腳針數(shù)應(yīng)用中,保證探針腔體件有良好的強(qiáng)度,確保所有探針可靠、穩(wěn)定的PCB板接觸;另一方面,芯片測試過程中產(chǎn)生的大量熱能通過金屬探針腔體及時(shí)導(dǎo)出、散發(fā),避免熱量局部集中,有助于提高測試穩(wěn)定性及探針的使用壽命。


憑借獨(dú)特的低介電常數(shù)材質(zhì)的環(huán)結(jié)構(gòu),最大化同軸結(jié)構(gòu)的性能,使得DaVinci微型測試插座表現(xiàn)出業(yè)內(nèi)同行產(chǎn)品難以企及的性能優(yōu)勢,持續(xù)保持業(yè)內(nèi)領(lǐng)先地位。


殼體


除了探針外,DaVinci 微型測試插座殼體由史密斯英特康專有絕緣金屬材料制造,用于放置彈簧探針,具有絕佳的信號(hào)完整性和強(qiáng)度。


通常來說,芯片系統(tǒng)性能的增加會(huì)影響測試過程中的引腳到引腳的抗噪音要求,這種問題在測試中也被稱為“串?dāng)_”,而DaVinci 微型測試插座的全屏蔽信號(hào)路徑可有效減少測試中的串?dāng)_影響,上述提到的金屬探針腔體通過接地探針接地,也可以屏蔽芯片測試過程中信號(hào)通路在測試中相互干擾的影響,減少串?dāng)_,全面提高插座的抗串?dāng)_性能,進(jìn)而大幅度提升測試芯片性能的準(zhǔn)確性。


DaVinci 微型測試插座Bottom View


同時(shí),精密加工的插座殼體還確保插座堅(jiān)固的機(jī)械性能。據(jù)透露,史密斯英特康開發(fā)并應(yīng)用了IM-002新型絕緣金屬材料,具有更高的強(qiáng)度、良好的導(dǎo)熱性及工藝性。


目前,DaVinci 微型測試插座已經(jīng)成功完成了客戶端評估,并表現(xiàn)出預(yù)期的信號(hào)完整性性能和良好的批量芯片測試可靠性,適用于BGA、LGA、QFN、DFN和其他封裝的解決方案,是最小間距0.35mm的理想選擇,也實(shí)現(xiàn)了史密斯英特康0.35mm 及以上的球/引腳間距高速芯片測試應(yīng)用的全覆蓋。


挑戰(zhàn)不止,升級(jí)不息


作為史密斯英特康新一代高速測試插座,DaVinci 微型測試插座結(jié)合DaVinci 56產(chǎn)品的出色性能,充分利用IC高速測試的DaVinci同軸技術(shù),做到350μm間距并提供理想的引腳到引腳隔離,能夠顯著提高首件測試合格率及最終的芯片測試合格率,而其產(chǎn)品優(yōu)勢也遠(yuǎn)不止上述提到的那幾點(diǎn)。


據(jù)透露,DaVinci 微型測試插座經(jīng)測試,接觸壽命可達(dá)500,000次;可匹配客戶現(xiàn)有的PCB測試系統(tǒng)和測試硬件,可以極大得節(jié)省成本;并可現(xiàn)場維修,根據(jù)需要更換單個(gè)探針或整個(gè)針陣列,無需額外培訓(xùn);且探針接觸路徑短,導(dǎo)電能力強(qiáng)。


正是憑借 DaVinci 系列,史密斯英特康的測試插座被廣泛應(yīng)用于嵌入式設(shè)備、5G、人工智能、車聯(lián)網(wǎng)、數(shù)據(jù)中心高速運(yùn)算等領(lǐng)域,鞏固了在高速測試市場的領(lǐng)先地位,全球眾多知名芯片和國內(nèi)一線互聯(lián)網(wǎng)公司都是其高速測試領(lǐng)域的客戶。除了各種封裝測試插座產(chǎn)品線,史密斯英特康還開發(fā)了開發(fā)晶圓級(jí)別水平和垂直測試卡,提高芯片測試領(lǐng)域市場占有率。

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